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日立X射線熒光光譜儀 X-Strata 920 多元素分析儀

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產品簡介

X射線熒光分析的優點：●最少或無需樣品制備●無損分析●可測元素范圍廣：Ti22toU92●可分析固體和溶液●分析快速：幾秒內得到結果●定性、半定量和全定量分析●操作容易，只需要簡單培訓詳細參數請咨詢客服！利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制

詳細介紹

X射線熒光分析的優點：

●最少或無需樣品制備

●無損分析

●可測元素范圍廣：Ti22 to U92

●可分析固體和溶液

●分析快速：幾秒內得到結果

●定性、半定量和全定量分析

●操作容易，只需要簡單培訓詳細參數請咨詢客服！

利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

X-Strata920 – 性價比高，無損可靠

一款操作簡單的質量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析。

新型號設計

快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度

多款規格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型

開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等

符合ISO3487和ASTM B568檢測方法

X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要：

固定樣品臺

開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度

經濟、實用

平面樣品臺設計，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析