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GY-MARS/T6600 X射線熒光光譜分析儀（新）

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更新時間：2022-03-10 14:48:41瀏覽次數：327次

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產品簡介

GY-MARS/T6600X射線熒光光譜分析儀（新）儀器概述GY-MARS/T6600型貴金屬分析儀是貴金屬分析儀中的產品

詳細介紹

GY-MARS/T6600 X射線熒光光譜分析儀（新）

儀器概述
GY-MARS/T 6600型貴金屬分析儀是貴金屬分析儀中的產品。可實現貴金屬、鍍層、表面均勻度檢測，符合新國標GB18043-2013。該產品可應用于銀行、技術監督部門、進出口檢疫、大型黃金企業等眾多行業。

儀器采用了電制冷SI-PIN半導體探測器，分辨率為149eV。能很好地檢測被測物中的各種元素，降低元素間的干擾，有效測量黃金、鉑金中的銥含量。 6mm²的探測面積，具有優秀的點對點測量能力。配合來自美國的的第五代II型數字信號處理器，分析速度和系統處理能力在第五代I型處理器基礎上進一步提高，計數率可達400萬，測試穩定性和準確性比第五代I型處理器提高1倍。
產品特點：
1. 符合*飾新標準GB18043-2013。

2. 操作簡便，測量時間短，不需要輔助材料，不需損毀樣品。
3. 全封閉式金屬機箱及防泄漏保護設計，更好地保障操作員的人身安全。
4. 精確的樣品成像準直系統，實現對樣品的準確點測。
5. 的數據分析方法，使測量結果更加精確。
6. 打印機可連續打印測量報告。
7. 自定義工作曲線，可分析多種鍍層厚度。
8. 采用來自美國的*的電制冷SI-PIN半導體探測器，探測面積6mm²，具有優秀的點對點測量能力。分辨率可達149eV，遠優于國標GB18043-2008。因此大大降低了元素間的干擾，可準確檢測鉑金含銥、黃金含銥等復雜成分樣品，防止購回業務中產生誤判帶來經濟損失。
9. 采用來自美國的高壓電源，配合原廠的數字控制板，穩定性遠遠高于國內同類產品。
10. 高分辨率圖譜即時顯示，由不同色塊加以判斷區分，清晰明了，易于判別。
11. 水冷X光管配合光管保養程序，散熱更好，有效延長X光管壽命，降低用戶使用成本。
12. 采用來自美國的第五代II型數字信號處理器，數據的穩定性和準確性比第五代I型處理器提高1倍，技術水平。
13. 多樣品多點測量系統采用全自動數控精密位移樣品臺，配合我公司多年研發的專用軟件，操作簡單，定位精確。可進行多樣品多點連續測量及均勻度、分布梯度分析，節省時間，優化工作流程，避免不均勻帶來的測量誤差。
具備高含量精密分析模式，可對99.9%（千足金）到99.999%進行有效分析。

技術指標：
1．外型尺寸：710×540×435（mm）
2．樣品倉尺寸：400×340×150 ( mm )
3．重量：59kg
4．工作環境溫度：10—28℃
5．工作環境相對濕度：≤80%
6．元素分析范圍：硫(S)到鈾(U)
7．含量分析范圍：1ppm—99.99%
8． 分析精度： 0.01%-0.1%（足金以上精度≤0.05％）
9．測量時間：100-300s (推薦)
10．分辨率：149eV FWHM @ 5.9keV
11．電源：AC100—240（V）
12．電源頻率：47—63（Hz）
13．探測器類型：電制冷SI-PIN半導體探測器
14．信號處理器：美國原產第五代II型數字信號處理