頻率及高低周試驗(yàn)”測試模塊主要是用來測試低周減載和高周切機(jī)等保護(hù)的各項(xiàng)功能。根據(jù)其功能，將這個(gè)模塊分成了六個(gè)測試單元。
?    測試項(xiàng)目全面，包含了幾乎所有的頻率及高低周保護(hù)
?    頻率可以下滑進(jìn)行低周減載測試，

50. 也可以上滑進(jìn)行高周試驗(yàn)

第一節(jié)   界面說明

1.電壓電流輸出靈活組合  輸出達(dá)4相電壓3相電流，可任意組合實(shí)現(xiàn)常規(guī)4相電壓3相電流型輸出模式，既可兼容傳統(tǒng)的各種試驗(yàn)方式，HDJB-702S微機(jī)繼電保護(hù)測試儀（觸摸屏操作）也可方便地進(jìn)行三相變壓器差動試驗(yàn)和廠用電快切和備自投試驗(yàn)。
2.操作方式  裝置直接外接筆記本電腦或臺式機(jī)進(jìn)行操作，方便快捷，性能穩(wěn)定。
3.新型高保真線性功放  輸出端一直堅(jiān)持采用高保真、高可靠性模塊式線性功放，而非開關(guān)型功放。不會對試驗(yàn)現(xiàn)場產(chǎn)生高、中頻干擾，而且保證了從大電流到微小電流全程都波形平滑精度優(yōu)良。
4.高性能主機(jī)  輸出部分采用DSP控制，運(yùn)算速度快，實(shí)時(shí)數(shù)字信號處理能力強(qiáng)，傳輸頻帶寬，控制高分辨率D/A轉(zhuǎn)換。輸出波形精度高，失真小線性好。采用了大量先進(jìn)技術(shù)和精密元器件材料，并進(jìn)行了專業(yè)化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，因而裝置體積小、重量輕、功能全、攜帶方便，開機(jī)即可工作，流動試驗(yàn)非常方便。
5.軟件功能強(qiáng)大  可完成各種自動化程度高的大型復(fù)雜校驗(yàn)工作，能方便地測試及掃描各種保護(hù)定值，進(jìn)行故障回放，實(shí)時(shí)存儲測試數(shù)據(jù)，顯示矢量圖，聯(lián)機(jī)打印報(bào)告等。可方便進(jìn)行三相差動保護(hù)測試。
6.具有專用直流電源輸出  設(shè)有一路110V及220V專用直流電源輸出。
7.接口完整  裝置帶有USB通訊口，可與計(jì)算機(jī)及其它外部設(shè)備通信。
8.完善的自我保護(hù)功能  散熱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，硬件保護(hù)措施可靠完善，具有電源軟啟動功能，軟件對故障進(jìn)行自診斷以及輸出閉鎖等功能。
1.交流電流輸出
輸出精度   0.2級
相電流輸出（有效值）     0～40A 三并電流輸出（有效值）   0～120A
相電流長時(shí)間允許工作值（有效值） 10A
相電流輸出功率               420VA
三并電流輸出時(shí)輸出功率   900VA
三并電流輸出時(shí)允許工作時(shí)間   10s
頻率范圍（基波）   20～1000Hz
諧波次數(shù)           1～20 次
2.直流電流輸出:輸出精度   0.2級
電流輸出   0～±10A / 每相，0～±30A / 三并
輸出負(fù)載電壓   20V
3.交流電壓輸出:輸出精度   0.2級
相電壓輸出（有效值）    0～120V
線電壓輸出（有效值）    0～240V
相電壓/線電壓輸出功率    80VA / 100VA
頻率范圍（基波） 20～1000Hz
諧波次數(shù)         1～20次
  4.直流電壓輸出:輸出精度   0.2級
相電壓輸出幅值   0～±160V線電壓輸出幅值   0～±320V
相電壓/線電壓輸出功率   70VA / 140VA
? 測試項(xiàng)目
有“動作頻率”、“動作時(shí)間”、“df/dt閉鎖”、“dv/dt閉鎖”、“低電壓閉鎖”以及“低電流閉鎖”等六個(gè)測試項(xiàng)目。根據(jù)需要，可以選擇其中的一個(gè)或者多個(gè)進(jìn)行試驗(yàn)。選擇多個(gè)測試項(xiàng)目時(shí)，在一個(gè)測試項(xiàng)目測試完畢后，會彈出相應(yīng)對話框提示是否進(jìn)行下一個(gè)測試項(xiàng)目。
測試對象名稱中包含“低周保護(hù)”、“頻率繼電器”、“差頻繼電器”、“低頻繼電器”以及“高頻繼電器”五種繼電器。默認(rèn)情況下選擇“低周保護(hù)”。其下拉菜單如圖所示：

? 試驗(yàn)參數(shù)
?  頻率變化前延時(shí)
在變量的每個(gè)變化過程中，裝置先以額定頻率50Hz輸出，維持至“頻率變化前延時(shí)”結(jié)束，然后再開始變化。該項(xiàng)在有些保護(hù)測試是非常有用，可以用來等待保護(hù)頻率閉鎖后解除閉鎖。
?  測試間斷時(shí)間
每一次試驗(yàn)結(jié)束后裝置將停止輸出至“測試間斷時(shí)間”結(jié)束，再進(jìn)入下一次試驗(yàn)。
?  整定值
各測試功能頁中均有整定值輸入框，這些整定值大多在試驗(yàn)期間并不起作用，只是在試驗(yàn)后起到參考對比作用。根據(jù)需要自行設(shè)定“允許誤差”。試驗(yàn)測得的“測試值”與“整定值”進(jìn)行比較后，得出一個(gè)相對誤差，從而反映保護(hù)的性能。
? 動作頻率
?  動作頻率測試范圍
動作頻率測試范圍的測試始值和終值均應(yīng)設(shè)置在動作頻率附近。測試始值應(yīng)大于保護(hù)整定動作值，測試終值小于整定動作值，
動作頻率的測試方法：測試時(shí)頻率分兩階段變化：開始以50Hz輸出，經(jīng)過變化前延時(shí)后，先按所設(shè)定的df/dt均勻下滑（或上滑）至測試始值頻率，然后按設(shè)定的步長以一定時(shí)間間隔逐格降

低（或上升）頻率，在該過程中如保護(hù)動作，則測出動作值。如未動作，當(dāng)變化至測試終值，即認(rèn)為保護(hù)不會動作而結(jié)束該項(xiàng)目測試。

這里逐格變頻的時(shí)間間隔是根據(jù)整定的動作時(shí)間自動確定的，該時(shí)間間隔比整定動作時(shí)間長0.2S。故整定動作時(shí)間應(yīng)設(shè)置正確，以保證在變化時(shí)間間隔內(nèi)保護(hù)有足夠時(shí)間可以動作。

做低周減載試驗(yàn)一般測試范圍小于50Hz，做高周切機(jī)試驗(yàn)一般測試范圍大于50Hz。

例如：已知低周動作值為48.5Hz，可以設(shè)定測試范圍為48.7—48Hz，步長為0.05Hz。測試始值和終值不能設(shè)置得太小（一般應(yīng)不低于45Hz），否則保護(hù)將閉鎖。

動作時(shí)間

動作時(shí)間測試的方法：頻率從始值（一般為50Hz）下滑至終值并等待動作。該終值應(yīng)略小于動作頻率值以確保裝置動作，但測試動作時(shí)間的計(jì)時(shí)器是從所設(shè)定的“開始計(jì)時(shí)點(diǎn)的頻率”處開始計(jì)時(shí)，故該值若有偏差將影響時(shí)間測量精度。試驗(yàn)過程見右圖。

?  開始計(jì)時(shí)的頻率點(diǎn)

測動作時(shí)間時(shí)，應(yīng)特別注意正確設(shè)置“開始計(jì)時(shí)點(diǎn)的頻率”。一般設(shè)置為裝置整定的動作頻率，或測試出的準(zhǔn)確動作頻率值。

? df/dt閉鎖
?  df/dt測試范圍
測試“df/dt閉鎖值”時(shí)，在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每次測試時(shí)都從頻率始值下滑（或上滑）至終值，下滑（或上滑）的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗(yàn)至保護(hù)動作，則測出此時(shí)的df/dt閉鎖的邊界值。
因?yàn)楸Ｗo(hù)在大于整定的df/dt值下滑時(shí)閉鎖，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護(hù)整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護(hù)整定的閉鎖值，即測試保護(hù)從不動作到動作，測出保護(hù)的df/dt閉鎖值。
?  頻率變化范圍
每輪試驗(yàn)頻率從始值下滑（或上滑）至終值。始值一般為50Hz，變化終值不能設(shè)置太小，因?yàn)橐话阊b置都有一個(gè)固有的“閉鎖頻率”，頻率太低了，裝置將會被閉鎖不出口。
做該試驗(yàn)時(shí)頻率變化前延時(shí)一般不能太小，以使保護(hù)有足夠時(shí)間解除閉鎖狀態(tài)。
? dv/dt閉鎖
這個(gè)測試頁與上文中的“df/dt閉鎖”很相似，區(qū)別在于每輪測試變化的是dv/dt值。下面只對它們的不同點(diǎn)做介紹。
?  dv/dt測試范圍
測試“dv/dt閉鎖值”時(shí)在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每次測試時(shí)電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗(yàn)如果保護(hù)動作，則測出dv/dt閉鎖的邊界值。
因?yàn)檠b置在大于整定的dV/dt閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動作做到動作，從而測出裝置的dv/dt閉鎖值。
?  電壓變化范圍
為了模擬電壓下降的過程，一般應(yīng)設(shè)電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時(shí)，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設(shè)置的電壓“變化終值”應(yīng)大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。
?  測試時(shí)df/dt值
在此測試單元里頻率總是按所設(shè)置的df/dt變化，因此設(shè)置df/dt時(shí)，應(yīng)保證其值小于裝置所整定的df/dt閉鎖值。
? 低電壓閉鎖
該頁與上文中的“df/dt閉鎖”和“dv/dt閉鎖”相似。下面僅介紹不同點(diǎn)。
?  電壓測試范圍
測試時(shí)電壓在此范圍內(nèi)逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每輪測試時(shí)頻率變化，但電壓固定為某一值。電壓值從始值逐漸增加，至某一值時(shí)裝置解除閉鎖正確動作，則該值即為低電壓閉鎖邊界值
由于裝置在電壓小于閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，故一般變化始值應(yīng)設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值，變化終值應(yīng)設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值。即試驗(yàn)從裝置不動作到動作，從而測出裝置的低電壓閉鎖值。
? 低電流閉鎖
該測試頁與“低電壓閉鎖”試驗(yàn)方法非常相似。現(xiàn)場試驗(yàn)時(shí)，請參考“df/dt閉鎖”、“dv/dt閉鎖”和“低電壓閉鎖”中的使用說明。
第二節(jié)   試驗(yàn)指導(dǎo)
下面僅以“低周動作值測試”為例，詳細(xì)說明具體的試驗(yàn)方法
? 接線方法
測試儀三相電壓UA、UB、UC接保護(hù)三相電壓，測試儀UN接保護(hù)的UN；測試儀開入量A、B分別接保護(hù)的第一輪和第二輪甩負(fù)荷開出引線的一端，另一端短接后接測試儀開入量的公共端；最后接上裝置的工作電源（如果裝置需要直流工作電源，可以從測試儀后面板的獨(dú)立直流電源引接）。
? 選擇
打開“頻率及高低周保護(hù)”測試模塊，選擇“低周保護(hù)”測試對象的“動作頻率”測試項(xiàng)目；
? 設(shè)置
切換到“動作頻率”測試界面，設(shè)置試驗(yàn)數(shù)據(jù)，如右圖所示：
?  整定動作頻率
按照保護(hù)的定值單或保護(hù)實(shí)際整定的定值設(shè)置。該設(shè)置項(xiàng)在試驗(yàn)期間只起參考作用，不影響試驗(yàn)結(jié)果。
?  整定動作時(shí)間
保護(hù)的定值單上的整定動作時(shí)間。第二階段逐格變頻的時(shí)間間隔等于該值加0.2秒。該值如果設(shè)置太小，有可能會使保護(hù)在一個(gè)變頻時(shí)間間隔內(nèi)來不及動作，故該值應(yīng)正確設(shè)置。
?  動作頻率測試范圍

“初始頻率”必須高于保護(hù)整定動作頻率，并且“終止頻率”必須低于整定動作頻率，即將動作頻率夾在二者之間，

?    頻率變化步長
“變化步長”依據(jù)對試驗(yàn)的精度要求而定，一般按默認(rèn)的0.05Hz設(shè)置即可。
?  測試時(shí)df/dt值
指頻率下降過程中第一階段的均勻變頻速率，df/dt值應(yīng)小于保護(hù)整定的閉鎖值。
? 開始試驗(yàn)按鈕
檢查試驗(yàn)參數(shù)均設(shè)置正確后，即可開始試驗(yàn)。試驗(yàn)期間，界面上的“當(dāng)前頻率Hz”欄可以觀察到當(dāng)前測試儀輸出的實(shí)時(shí)頻率。測試儀未輸出電壓時(shí)，保護(hù)上的“異常”燈會亮。當(dāng)測試儀輸出的頻率小于保護(hù)的“啟動值”時(shí)，保護(hù)上“啟動”燈亮，即啟動低周動作元件。
試驗(yàn)的過程如下：輸出50Hz電壓電流，經(jīng)過變化前延時(shí)——頻率以df/dt速率均勻下滑至“測試初值”——按“變化步長”以“整定動作時(shí)間＋0.2秒”的時(shí)間間隔逐格下降頻率并記錄是否保護(hù)動作