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南京長(zhǎng)盛CS9912YS程控科研耐壓測(cè)試儀返回列表頁(yè)

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產(chǎn)品型號(hào)CS9912YS

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更新時(shí)間：2017-01-21 19:12:59瀏覽次數(shù)：662次

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●GB9706.1-2007(IEC60601-11988)試驗(yàn)電壓中要求：開始應(yīng)施加不超過(guò)一半規(guī)定值的電壓，然后應(yīng)在10s期間將電壓逐漸增加到規(guī)定值，應(yīng)保持此值達(dá)1min，之后應(yīng)在10s期間將電壓逐漸降至規(guī)定值一半以下。我們公司的CS9912YS通過(guò)三步設(shè)置，一次性完成此項(xiàng)測(cè)試，省時(shí)省力。

●GB9706.1-2007(IEC60601-11988)試驗(yàn)電壓中要求：試驗(yàn)時(shí)不應(yīng)發(fā)生閃絡(luò)或擊穿。程控科研耐壓測(cè)試儀特別增加了示波器接口，通過(guò)李沙育圖形觀察閃絡(luò)和拉弧現(xiàn)象。

參數(shù)

型號(hào)				CS9912YS	CS9914YS
ACW	輸出電壓		范圍	0.050kV～5.000kV
			精度	±（2％讀值+5V）
			分辨率	1V
	zui大輸出功率			100VA（5.000kV/20mA）	500VA（5.000kV/100mA）
	zui大額定電流			20mA	100mA
	下限電流范圍			0～20mA,0=不判斷下限	0～100mA,0=不判斷下限
	電流檔位			200uA、2mA、20mA	200uA、2mA、20mA、100mA
	輸出波形			正弦波
	電壓上升時(shí)間			0.3s～999.9s 0=電壓上升時(shí)間關(guān)
	測(cè)試時(shí)間			0.3s～999.9s 0=連續(xù)測(cè)試
	電壓下降時(shí)間			0.3s～999.9s 0=電壓下降時(shí)間關(guān)
	間隔時(shí)間			0.0s～999.9s 0=間隔時(shí)間關(guān)
	輸出電壓模式			N模式、G模式
	電弧偵測(cè)			(0.00-10.00)mAac/(0-9) 0=關(guān)
	電弧偵測(cè)時(shí)間			(0.0-999.9)秒 0＝Disable
DCW	輸出電壓		范圍	0.05kV～6.000kV
			精度	±（2％讀值+5V）
			分辨率	1V
	zui大輸出功率			60W（6.000kV/10mA）	300W（6.000kV/50mA）
	zui大額定電流			10mA	50mA
	電流檔位			2uA、20uA、200uA、2mA、10mA	2uA、20uA、200uA、2mA、20mA、50mA
	紋波系數(shù)			≤5%	≤5%
	放電時(shí)間			≤200ms	≤200ms
	zui大充電電流			10mA	50mA
	電壓上升時(shí)間			0.3～999.9s 0=電壓上升時(shí)間關(guān)
	測(cè)試時(shí)間			0.3～999.9s 0=連續(xù)測(cè)試
	電壓下降時(shí)間			0.3～999.9s 0=電壓下降時(shí)間關(guān)
	間隔時(shí)間			0.0～999.9s 0=間隔時(shí)間關(guān)
	延時(shí)報(bào)警時(shí)間			0.3～999.9s 0=延時(shí)報(bào)警時(shí)間關(guān)
	輸出電壓模式			N模式、G模式
	電弧偵測(cè)			(0.00-10.00)mAac/(0-9) 0=關(guān)
	電弧偵測(cè)時(shí)間			(0.0-999.9)秒 0＝Disable
電壓表	范圍			0.050kV～5.000kV（AC） 0.050kV～6.000kV（DC）
	精度			±（2％讀值+5V）
	分辨率			1V
	顯示數(shù)值			均方根值
電流表	測(cè)量范圍	AC		0 ～ 20mA	0 ～ 100mA
		DC		0 ～ 10mA	0 ～ 50mA
	分辨率	AC		≤ 2mA為0.001mA，> 2mA為0.01mA
		DC		≤ 2mA為0.001mA，> 2mA為0.01mA
	測(cè)量精度			≥2mA為±（2%+5個(gè)字），<2mA為±（3%+5個(gè)字）
	偏移功能			測(cè)試線及附件的的電流可以被減去。
	測(cè)試模式			GND模式：RETURN端接機(jī)殼 FLOAT模式：RETURN端不接機(jī)殼
計(jì) 時(shí) 器	范圍			0～999.9s
	分辨率			0.1s
	精度			±（0.1%+50ms）
記憶組/測(cè)試步				50組/40步