金屬鍍層厚度分析儀DX-520L工作原理
X射線光譜方法測定金屬鍍層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。
Think600金屬鍍層厚度分析儀是集德譜儀器多年鍍層測厚檢測技術和經驗，以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。
DX-520L性能規格：
【型號】： DX-320L
【測試對像】： 粉未、固體、液體
【元素分析范圍】： 鈉（Na）－鈾（U）
【同時zui多可測元素】： 36種
【含量分析范圍】： 1ppm～99.99%
【工作穩定性】： 總熒光強度為0.1％
【測試時間】： 60～200秒
【探測器分辨率】： 139eV±5
【多道分析器】： 2048道
【X射線光管】： 功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo
【高壓電源】： 電壓范圍0~50KV，穩定度每小時小于0.05%
【外型尺寸】： 660mm×500mm×330mm
【測量倉】： 450mm×350mm×100mm
【重量】： 62Kg
【zui低檢出限】： Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm
鍍層技術參數：
【可測鍍層數】： zui多可達5層
【鍍層種類】： 單金屬鍍層、合金鍍層
【鍍層識別精度】： 分析檢出限可達2ppm，zui薄可測試0.005μm。
【厚度測試范圍】： 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um
DX-520L應用領域：
廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業
DX-520L使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。
