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    深圳市歐亞精密儀器有限公司


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    奧林巴斯Olympus 45MG超聲波測厚儀

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    品       牌

    廠商性質代理商

    所  在  地深圳市

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    更新時間:2016-07-21 15:16:35瀏覽次數:406次

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    經營模式:代理商

    商鋪產品:533條

    所在地區:廣東深圳市

    聯系人:王 (銷售)

    產品簡介

    奧林巴斯Olympus 45MG超聲波測厚儀是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲波測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機的創新型儀器,可用于幾乎所有測厚應用。

    詳細介紹

    奧林巴斯Olympus 45MG超聲波測厚儀

    奧林巴斯Olympus  45MG超聲波測厚儀是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲波測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機的創新型儀器,可用于幾乎所有測厚應用。

    奧林巴斯Olympus 45MG超聲波測厚儀在使用基本配置時,是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀,操作人員經過zui基本的培訓,就可完成zui常用的測厚應用。不過,45MG超聲波測厚儀儀器添加了可選軟件選項和探頭后,就會變成一款極為高級的超聲波測厚儀,可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外,選項可以在購買儀器時分別購買,或在日后需要時購買。

    45MG超聲波測厚儀與所有OlympusDAN雙晶探頭兼容,可對內部腐蝕的金屬的厚度進行測量

    zui小值/zui大值模式

    兩個報警模式

    差值模式

    時基B掃描

    縮減率

    增益調整(標準、高、低)

    密碼式儀器鎖定

     

    抵御惡劣環境的能力

    堅固耐用,設計符合IP67標準。

    爆炸性氣氛:可在國家防火協會規范(NFPA 70)500節I級2分段D組規定的爆炸性氣氛環境中安全操作,并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規定的測試。

    防撞擊測試:通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規定的測試,每軸6個循環,15 g,11 msec半弦波。

    防振動測試:通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試,一般暴露:每軸1小時。

    寬泛的操作溫度范圍

    可選的帶有支架的橡膠保護套

    簡便操作的設計理念

    • 可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區
    • 可直接訪問大多數功能的簡便易行的操作界面
    • 使用內置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
    • USB通訊端口
    • 可存儲475000個厚度讀數或20000個波形的可選字母數字式數據記錄器
    • 默認或自定義單晶探頭設置(可選)
    • 密碼保護方式的儀器鎖定
    • 彩色透反QVGA顯示,帶有室內和室外顏色設置,具有的清晰度

    奧林巴斯Olympus 45MG超聲波測厚儀可選功能:

    只需幾次按鍵,即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。

    45MG超聲波測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項,從而躋身于工業領域中用途zui廣泛的超聲波測厚儀行列。

    回波到回波/穿透涂層:(U8147021)使用回波到回波選項,儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度,而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度,這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此,在進行厚度測量時,無需去掉材料表面的漆層或涂層。

    單晶:(U8147022)這個選項可對很多材料,如:金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷,進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

    單晶高穿透:(U8147023)這個選項可對較厚或衰減性較高的材料,如:玻璃纖維或鑄造金屬,進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。

    數據記錄器:(U8147020)45MG超聲波測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器,可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。

    帶有波形調整功能的實時A掃描:(U8147019) 用戶使用這個可選實時A掃描模式,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測量讀數,對增益和空白設置進行手動調整,以在具有挑戰性的應用中zui大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數。

    奧林巴斯Olympus 45MG超聲波測厚儀技術參數:

    測量

    雙晶探頭測量模式

    從激勵脈沖后的精確延遲到*個回波之間的時間間隔。

    自動回波到回波(可選)

    在兩個連續底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。

    穿透涂層測量 (可選)

    利用單個底面回波,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭)

    單晶探頭測量模式(可選)

    模式1:激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。 
    模式2:延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭) 
    模式3:在激勵脈沖之后,位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。

    厚度范圍

    0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量zui全的范圍需要使用單晶選項)

    材料聲速范圍

    0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs)

    分辨率(可選擇)

    低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 
    標準分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 
    單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸)

    探頭頻率范圍

    標準:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)

    一般規格

    操作溫度范圍

    -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F)

    鍵盤

    密封、以色彩區分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋

    機殼

    防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼,機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。

    外型尺寸(寬 x 高 x 厚)

    總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm

    重量

    430.9克

    電源

    3節AA電池/USB電源供應

    電池工作時間

    3節AA堿性電池:20到21小時 
    3節AA鎳氫電池:22到23小時 
    3節AA鋰離子電池:35到36小時

    標準

    設計符合EN15317標準

    顯示

    彩色透反QVGA顯示

    液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米

    檢波

    全波、RF波、正半波、負半波(波形選項)

    輸入/輸出

    USB

    2.0從接口

    存儲卡

    zui大容量:2 GB可插拔MicroSD存儲卡

    內置數據記錄器(可選)

    數據記錄器

    45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。

    容量

    475000個厚度測量讀數,或20000個帶厚度值的波形

    文件名稱和ID編碼

    32位字符的文件名,20位字符的字母數字位碼

    文件結構

    6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構

    報告

    機載報告總結了數據統計和zui小值/zui大值

    奧林巴斯Olympus 45MG超聲波測厚儀標準配置

    • 45MG超聲波測厚儀

    • AA堿性電池

    • 2階試塊和耦合劑

    • USB線纜

    • 用戶手冊,存于CD盤上

    • 測量功能:zui小值/zui大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能

    軟件選項

    • 45MG-SE (U8147022):單晶選項,使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭

    • 45MG-HP (U8147023):單晶高穿透選項,使用頻率范圍為0.5 MHz~30 MHz的單晶探頭

    • 45MG-EETC (U8147021):回波到回波和穿透涂層

    • 45MG-WF (U8147019):波形選項

    • 45MG-DL (U8147020):內置數據記錄器,包含GageView接口程序

    選購附件

    • MICROSSD-ADP-2GB (U8779307): 2 GB外置MicroSD存儲卡
    • 45MG-RPC (U8779676): 帶支架的橡膠保護套

     

    奧林巴斯Olympus 45MG超聲波測厚儀軟件選項詳細介紹:

    回波到回波/穿透涂層選項

    回波到回波

    測厚儀使用多個底面回波,顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度:

    • 自動回波到回波

    • 手動回波到回波(僅出現于A掃描選項),可進行以下操作:

      • 增益調整

      • 擴展空白

      • 回波空白

    穿透涂層技術

    使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此,要得到金屬的厚度,無需去掉表面的漆層和涂層。

    穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

    顯示A掃描的自動回波到回波模式

    顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式(波形選項未被激活)

    調整*個回波空白的手動回波到回波模式

    顯示可選波形的穿透涂層模式

     

    單晶軟件選項:

    用戶使用單晶軟件選項,可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為精確的厚度測量。可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

    • 大多數薄材料和厚材料

    • 壁厚薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道及薄片材料

    • 壁厚薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器、鋼圈板、機加工部件

    • 汽缸孔、渦輪葉片

    • 玻璃燈泡、瓶子

    • 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料

    • 曲面部分或內圓角半徑較小的容器

     

    單晶高穿透軟件選項

    用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。

    • 大多數較厚或聲音衰減性較強的材料

    • 厚鑄造金屬部件

    • 厚橡膠輪胎、履帶

    • 玻璃纖維船體、儲存罐

    • 復合材料板

    • 對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭,分辨率為0.01毫米(0.001英寸)

     

    可選數據記錄器和PC機接口

    45MG超聲波測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器,可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。數據記錄器選項包含GageView接口程序。

    數據記錄器選項

    • 內置存儲容量為475000個厚度讀數,或20000個帶有厚度讀數的波形。

    • 32位字符的文件名稱

    • 20位字符的ID#(TML#)編碼

    • 6個文件格式:遞增型、序列型、帶自定義點的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機上手動創建的文件格式

    • 內置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡

    • 可以在內置和可插拔MicroSD存儲卡之間拷貝文件

    • 標準型USB通訊

    • 單晶探頭設置的雙向傳輸

    • 機載統計報告

    • 機載DB柵格視圖,使用3種可編輯的顏色

    • GageView接口程序可與45MG儀器通訊,方法是:

      • 通過USB端口

      • 讀取MicroSD存儲卡上的數據,或在存儲卡上寫入信息

    • 可將內部文件以與Excel兼容的CSV(以逗號分隔值)格式或.txt格式,直接導出到MicroSD存儲卡


    在PC機上可以看到以柵格形式出現的數據通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

    可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數的測量報告。 

    機載DB柵格視圖,使用3種可編輯的顏色

     

    GageView 接口程序

    • 包含在數據記錄器選項中

    • 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創建、打印及管理來自45MG測厚儀的數據

    • 創建數據集和測量總結

    • 編輯所存數據

    • 顯示數據集和測量總結文件。文件包含厚度讀數、測厚儀設置值及探頭設置值

    • 從測厚儀上下載厚度測量總結,或上傳厚度測量總結至測厚儀

    • 將測量總結導出到電子表格及其它程序

    • 收集捕獲的屏幕

    • 打印有關厚度、設置表格、統計及彩色柵格的報告

    • 升級45MG軟件

    • 下載和上傳單晶探頭設置文件


    在PC機上可以看到以柵格形式出現的數據通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

     

    帶有波形調整功能的實時A掃描

    用戶使用這個可選實時A掃描模式,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測量讀數,對增益和空白設置進行手動調整,以在具有挑戰性的應用中zui大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數。


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