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ZKSJD-600型全自動高低溫介電溫譜儀是中科院聲學所研發的一款高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線?？蓮V泛應用于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。測溫范圍從-190℃-600℃，滿足目前條件下測試的要求，同時高低溫阻抗、介
ZKSJD-600型全自動高低溫介電溫譜儀
關鍵詞：高低溫，介電溫譜，-190℃-600℃，薄膜，塊體
ZKSJD-600型全自動高低溫介電溫譜儀是中科院聲學所研發的一款高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質因數Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線?？蓮V泛應用于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。測溫范圍從-190℃-600℃，滿足目前條件下測試的要求，同時高低溫阻抗、介電測量系統軟件將高溫測試平臺，高溫測試夾具與WK6500TonghuiSolartron1260LCRTH2826/2827/TH2810Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A測量設備無縫連接，實現了自動完成高溫環境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外，還可以為用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據實驗方案設計，通過測量C和D值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐富多樣，是實驗室開發和研究新材料的重要測量手段。在生產質量控制和優化上也是強有力的工具。
一、產品特點：
1）高溫介電溫譜儀-高溫介電測量系統；
2）測量精度高，控溫，測量頻率寬，抗交流干擾；
3）介電軟件功能強大，擁有完善的測量系統；
4）直接得出介電常數實部和虛部的比值曲線；
5）直接得出復阻抗實部和虛部比值曲線的Cole-Cole圖；
6）直接得出機械品質因數Qm；
7）集方案、測量、分析、數字化顯示于一體集成化設計；
8）自主研發設計電極系統，重復性更好，穩定性更高；
9）高溫、寬頻下測量材料的介電性能；
10）一次只能測量一個樣品，測量準確度更高；
11）高溫介電測量系統與安捷倫、穩科阻抗產品wan美兼容；
12）多種溫度選型，軟件免費升級。
二、主要技術參數：
溫度范圍 -190℃-600℃
控溫精度 ±1℃
頻率范圍：20Hz-50MHz
測量精度：0.05%
控溫方式 連續升溫和分段升溫
測量精度 0.1℃
升溫斜率 0-10℃min（典型值3℃min）
控溫方式 PID精確控溫
顯示控制 電腦直接顯示
數據接口 USB接口
冷卻方式 液氮
降溫斜率 0-1℃/mim（典型值3℃/min）
測量精度：0.05%
測量原理：平行板電容器原理
供電:220V±10%,50Hz
工作環境:0℃-55℃
樣品尺寸:φ≤15min，d=3mm
測量方式:2線-4線測量
電極材料:鉑金
儀器尺寸:750×550×560
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