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HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統是一款專門用于測量材料電阻，電導率的設備，采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線． 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用于碳系導電
HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統
HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統
關鍵詞：電導率，電阻率，高溫600℃，兩探針，四探針
HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統是一款專門用于測量材料電阻，電導率的設備，采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線． 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用于碳系導電材料、 金屬系導電材料、 金屬氧化物系導電材料、結 構型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量。 過*的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線。
一、主要應用范圍：
1、 廣泛用于碳系導電材料的電阻率和電導率測量
2、 金屬系導電材料的電阻率和電導率測量
3、 金屬氧化物系導電材料的電阻率和電導率測量
4、 高分子導電材料的電阻率和電導率測量
5、 復合導電材料等材料的電阻率測量
6、 可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率
7、 符合標準：ASTM B193-02和GBT 6146-2010 、GBT15662-1995
8、 產品主要特點：
1、高溫兩探針夾具與帶升降高溫測試平臺配合使用，組成高溫兩探針測試平臺；
2測溫熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，確保測量溫度與樣品溫度的*性；
3、采用緊湊型設計，體積小、結構簡潔，操作簡單、方便；
4' 隔熱盤隔離樣品平臺與調節平臺，并與高溫測試平臺重合，具有理想的隔熱保溫效果；
5、 探針調節裝置具有三維精確調節功能，精確定位探針的位置；
6、 探針調節裝置具有粗調功能，有效增大探針的調節范圍；
7、 探針調節裝置帶探針壓力調節功能，確保探針與樣品的良好接觸，又不損傷樣品；
8、 探針采用帶同軸屏蔽層設計，減少電磁對測量的干擾；
9、探針電極選用鉑銥合金，有效減少接觸電阻，并具有良好的高溫抗氧化能力；
10、自帶校準件，與各測試儀器配套，校準測試夾具。
主要技術參數：
1、測量溫度范圍：RT~600℃或RT~800℃或RT~1200℃可選
2、測試探針： 2個高溫高頻探針或4個高頻探針
3、電極直徑：26.8mm
4、樣品大小：厚度小于10 mm，直徑5~40mm
5、溫控方式：恒溫、變溫、常溫
6、控溫精度：±0.4℃
7、電阻率：10nΩ-10MΩ
8、電阻：10nΩ-100MΩ
9、電導率：10-5 ～105 s/cm
10、重量：38KG
11、工作溫度：5℃至40℃
12、重量：15KG
13、可以配合任意型號Agilent 、 WayneKer r 、 So lar tron 、 同惠、 Keysight
等LCR表進行無縫結合
14、設備可以配合ZJ-3型和ZJ-6型壓電測試儀進行壓電D33系數測量
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