瑞典XCounter 雙能探測器
光子計數(shù) 直接轉(zhuǎn)換 能量分辨
•XCounter 采用CdTe作為直接轉(zhuǎn)換X射線探測器的轉(zhuǎn)換材料
•直接轉(zhuǎn)換X射線探測器具有更好的空間分辨率
•可獲得更小細節(jié)的清晰圖像
•動態(tài)范圍大，這對于獲取整幅圖像非常重要
•光子計數(shù)，具有更高的靈敏度，可在非常低的劑量下工作
•采用雙能曝光，具有區(qū)分材料的能力
雙能
• XCounter具有能量分辨能力，可以分辨出不同的材料
• 一次X射線獲取，可記錄兩種不同能量的X射線吸收劑量
• 利用不同組織和骨骼的吸收劑量的不同的特點，可以從圖像
中把它們區(qū)分出來
• 使得XCounter在醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域*特色
• *的賣點
*的傳感器
瑞典XCounter 雙能探測器
產(chǎn)品描述 FX系列
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、雙能采集、光子計數(shù)X射線探測器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式。
引進反符合技術(shù)的雙能采集功能，是XC-FLITE FX系列產(chǎn)品的*之處，在雙能采集過程中，收集到的光子能量分別設(shè)置為兩個獨立的閾值，并分別讀出，兩個能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料，為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的引進，可以通過保證將每一個光子信號分布在正確的像素點上，以獲取更高的能量分辨率。
集成
XC-FLITE FX系列，通過GigE接口將XC-FLITE FX系列連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有XC-FLITE FX的功能；可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺
應(yīng)用
*小范圍輻照
*小動物成像
*實驗室樣品和標(biāo)本成像
*工業(yè)檢測（NDT）
特點&優(yōu)勢
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像
*雙能采集，具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù)，的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時間延遲總和（TDS）模式
*兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發(fā)軟件
基本參數(shù)
物理參數(shù) | | |
尺寸 （L×W×H） | | XC-FLITE FX1：23.1×13.1×6.0 cm
XC-FLITE FX2：38.6×13.1×6.5 cm
XC-FLITE FX3：54.0×13.1×6.5 cm |
溫度控制 | | 內(nèi)部的珀爾帖效應(yīng)溫度控制 |
環(huán)境溫度 | | +10 - +40℃ |
儲藏溫度 | | -10-+60℃ @ 10% to 95% 濕度 |
射線窗 | | 碳纖維， 厚500μm |
射線屏蔽 | | 根據(jù)應(yīng)用 |
傳感器 | | |
傳感器數(shù)量 | | FX1：1 FX2：2 FX3：3 |
傳感器類型 | | 雙能光子計數(shù) CdTe-CMOS |
傳感器厚度 | | 0.75mm-2.0mm CdTe |
有效面積 | | FX1：154.7×12.8mm (1536×128像素)
FX2：309.4×12.8mm (3072×128像素)
FX3：464.1×12.8mm（4608×128像素） |
像素 | | 100μm |
像素填充率 | | |
| | |
性能 | | |
幀率 | | zui高1000 fps（也可選擇時間延遲求和模式） |
動態(tài)范圍 | | 12 bits |
圖像面元 | | 1×1，2×2，4×4 |
成像時間 | | 100μs-5s |
DQE（0）
Detective Quantum Efficiency | | 85%@RQA5 spectra |
MTF
Modulation Transfer Function | | ＞80% @ 2lp/mm
＞45% @ 5lp/mm |
管KV范圍 | | 15-250kVp |
內(nèi)部測試圖樣 | | Pseudo-random debug pattern |
外部觸發(fā)輸出 | | 3.3V TTL |
輸入 | | 5V |
滯后 | | 0% |
拖影 | | ＜0.1% X射線開啟后1分鐘，（12μGy） |
分辨率和DQE曲線 （反符合開CC on和閉CC off）
瑞典XCounter 雙能探測器
產(chǎn)品描述：PDT25-DE
緊湊型、直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、雙能采集、光子計數(shù)X射線探測器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成，PDT25-DE是一個小視場探測器，適用于潛在寬泛的能量范圍。
PDT25-DE可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式。
引進反符合技術(shù)的雙能采集功能，是PDT25-DE*之處，在雙能采集過程中，探測到的光子能量分別設(shè)置為兩個獨立的閾值，并分別讀出，兩個能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料，為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。采用反符合技術(shù)，可以確保將每一個光子信號分布在正確的像素點上，以獲取更高的能量分辨率。
集成
通過高速率USB接口將PDT25-DE連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺上。
應(yīng)用
*小范圍輻照
*小動物成像
*實驗室樣品和標(biāo)本成像
*反向散射成像
*工業(yè)檢測（NDT）
特點和優(yōu)勢
*CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像
*雙能采集，具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù)，的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時間延遲總和（TDS）模式
*兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發(fā)軟件
瑞典XCounter 雙能探測器
產(chǎn)品描述X 系列
XC-FLITE X1、X2、X3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、自掃描、雙能采集、光子計數(shù)X射線探測器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式，掃描速度zui高90mm/s。
引進反符合技術(shù)的雙能采集功能，是XC-FLITE X系列產(chǎn)品的*之處，在雙能采集過程中，收集到的光子能量分別設(shè)置為兩個獨立的閾值，并分別讀出，兩個能量設(shè)置可以用來區(qū)分材料，為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的引進，可以通過保證將每一個光子信號分布在正確的像素點上，以獲取更高的能量分辨率。
所有精心設(shè)計的運動部件需要在XC-FLITE X系列的內(nèi)部自動控制，整個掃描過程是透明可見的。
集成
XC-FLITE X系列，通過GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺
應(yīng)用
*小范圍輻照
*小動物成像
*實驗室樣品和標(biāo)本成像
*工業(yè)檢測（NDT）
特點&優(yōu)勢
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像
*自掃描設(shè)計，透明可見
*雙能采集，具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù)，的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時間延遲總和（TDS）模式
*掃描速度zui高90mm/s
*兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發(fā)軟件
