供應高頻雷達物位計廠家
上海麥倫儀表有限公司
高頻雷達物位計是采用了高達26GHz/24GHz的發射頻率,加大了測量距離和精度,天線被進一步的優化處理,處理器也作了相應的提升,使其可以進行更高速率的信號分析。綜合這些因素,就使得儀表的性能有了很大的提升,能夠克服更多復雜的測量條件,獲得更準確的測量數據。
產 品 說 明 : |
ML701 | | | 應 用: 各種強腐蝕性液體 測量范圍: 10米 過程連接: 螺紋、法蘭 介質溫度: -40~130℃ 過程壓力: -0.1~0.3MPa 精 度: ±5mm 頻率范圍: 26GHz 防爆等級: Exd ia ⅡC T6 Gb 防護等級: IP67 現場顯示:4位LCD 可編程 外殼:鋁/塑料 信號輸出: 4...20mA/HART(兩線/四線)RS485/Modbus |
ML702 | | | 應 用: 耐溫、耐壓、輕微腐蝕的液體 測量范圍: 30米 過程連接: 螺紋、法蘭 介質溫度: -40~150℃ 過程壓力: -0.1~4.0MPa 精 度: ±3mm 頻率范圍: 26GHz 防爆等級: Exd ia ⅡC T6 Gb 防護等級: IP67 現場顯示:4位LCD 可編程 外殼:鋁/塑料 信號輸出: 4...20mA/HART(兩線/四線)RS485/Modbus |
ML703 | | | 應 用: 固體料、 過程容器或強粉塵 易結晶、 結露場合 測量范圍: 70米 過程連接: 萬向法蘭 介質溫度: -40~250℃ 過程壓力: -0.1~0.1MPa 精 度: ±15mm 頻率范圍: 26GHz 防爆等級: Exd ia ⅡC T6 Gb 防護等級: IP67 外殼:鋁/塑料 信號輸出: 4...20mA/HART(兩線/四線)RS485/Modbus |
ML704 | | | 應 用: 固體料、 過程容器或強粉塵 易結晶、 結露場合 測量范圍: 80米 過程連接: 螺紋、萬向法蘭 介質溫度: -40~250℃ 過程壓力: -0.1~0.1MPa 精 度: ±15mm 頻率范圍: 26GHz 防爆等級: Exd ia ⅡC T6 Gb 防護等級: IP67 現場顯示:4位LCD 可編程 外殼:鋁/塑料 信號輸出: 4...20mA/HART(兩線/四線)RS485/Modbus |
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高頻雷達物位計是采用了高達26GHz/24GHz的發射頻率,加大了測量距離和精度,天線被進一步的優化處理,處理器也作了相應的提升,使其可以進行更高速率的信號分析。綜合這些因素,就使得儀表的性能有了很大的提升,能夠克服更多復雜的測量條件,獲得更準確的測量數據。
產 品 說 明 : |
ML701 | | | 應 用: 各種強腐蝕性液體 測量范圍: 10米 過程連接: 螺紋、法蘭 介質溫度: -40~130℃ 過程壓力: -0.1~0.3MPa 精 度: ±5mm 頻率范圍: 26GHz 防爆等級: Exd ia ⅡC T6 Gb 防護等級: IP67 現場顯示:4位LCD 可編程 外殼:鋁/塑料 信號輸出: 4...20mA/HART(兩線/四線)RS485/Modbus |
ML702 | | | 應 用: 耐溫、耐壓、輕微腐蝕的液體 測量范圍: 30米 過程連接: 螺紋、法蘭 介質溫度: -40~150℃ 過程壓力: -0.1~4.0MPa 精 度: ±3mm 頻率范圍: 26GHz 防爆等級: Exd ia ⅡC T6 Gb 防護等級: IP67 現場顯示:4位LCD 可編程 外殼:鋁/塑料 信號輸出: 4...20mA/HART(兩線/四線)RS485/Modbus |
ML703 | | | 應 用: 固體料、 過程容器或強粉塵 易結晶、 結露場合 測量范圍: 70米 過程連接: 萬向法蘭 介質溫度: -40~250℃ 過程壓力: -0.1~0.1MPa 精 度: ±15mm 頻率范圍: 26GHz 防爆等級: Exd ia ⅡC T6 Gb 防護等級: IP67 外殼:鋁/塑料 信號輸出: 4...20mA/HART(兩線/四線)RS485/Modbus |
ML704 | | | 應 用: 固體料、 過程容器或強粉塵 易結晶、 結露場合 測量范圍: 80米 過程連接: 螺紋、萬向法蘭 介質溫度: -40~250℃ 過程壓力: -0.1~0.1MPa 精 度: ±15mm 頻率范圍: 26GHz 防爆等級: Exd ia ⅡC T6 Gb 防護等級: IP67 現場顯示:4位LCD 可編程 外殼:鋁/塑料 信號輸出: 4...20mA/HART(兩線/四線)RS485/Modbus |
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供應高頻雷達物位計廠家是采用了高達26GHz/24GHz的發射頻率,加大了測量距離和精度,天線被進一步的優化處理,處理器也作了相應的提升,使其可以進行更高速率的信號分析。綜合這些因素,就使得儀表的性能有了很大的提升,能夠克服更多復雜的測量條件,獲得更準確的測量數據。
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