高溫高壓型雷達物位計 返回列表頁

產品概述;

  高溫高壓型雷達物位計 現今物位測量領域困擾用戶的是一些大型固體料倉的物位測量，特別是用于50/100米以內的充滿粉塵和擾動的加料狀態下的料倉。相關技術的儀表例如電容或導波雷達TDR在放料時物位下降時會受到很強的張力負載，可能會損壞儀表或把倉頂拉塌掉。重錘經常有埋錘的問題，需要經常維修，大多數其他機械式儀表也是這樣。而高粉塵工況又可能會超出非接觸式超聲波物位測量系統的能力。

  高頻的調頻雷達技術尤其適合這種大型固體料倉的物位測量！

 現今的高頻雷達一般為工作在K波段(24～26GHz)的雷達物位計，雷達的工作頻率越高其電磁波的波長越短，越容易在傾斜的固體表面有更好的反射，并具有較窄的波束寬度，可有效避開障礙物，高的頻率還可使雷達使用更小的天線。而FMCW調頻連續波微波物位計發射和接受信號是同時的，相同時間內發射的微波信號更多，固體測量中可減少高粉塵固體料倉測量中的失波現象。因此固體測量中高頻的調頻雷達能提供準確、可靠的測量，并在例如化工行業中的PP粉末、PE粉末等介質中也有良好應用。但由于技術限制，現今還沒有工作在K波段以上的高頻雷達物位計。

一、高溫高壓型雷達物位計 產品簡介

二、 應用介質：

  雷達物位計適用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及揮發存在的場合。

三、 注意事項

1、測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。

2、介質為低介電常數當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。

3、理論上測量達到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的*至少100mm。

4、對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區上。

5、zui小測量范圍與天線有關。

6、隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。

具體了解，就請！