<tfoot id="qqie6"></tfoot>

<ul id="qqie6"></ul>

當前位置：北京恒奧德儀器儀表有限公司>>*儀器儀表>>其他>>大米外觀品質檢測儀

大米外觀品質檢測儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協議為準

產品型號HAD-SCE

品牌

廠商性質生產商

產品資料下載

所在地北京市

在線詢價收藏產品

聯系方式：王蕊查看聯系方式

更新時間：2016-01-04 16:20:52瀏覽次數：146次

聯系我時，請告知來自儀表網

產品分類 品牌分類

  *儀器儀表

其他

煤質顆粒活性炭強度測定儀

活性炭強度測定儀

多功能型超聲波熱量表

智能發氣性測定儀

記錄式發氣性測定儀

發氣性測定儀

便攜式紅外測油儀

全自動紅外測油儀

全部產品列表

暫無信息

北京恒奧德儀器儀表有限公司

經營模式：生產廠家

商鋪產品：14875條

所在地區：北京北京市

聯系人：王蕊（經理）

詢價 給他留言

產品簡介

大米外觀品質檢測儀/稻米品質分析儀米質判定儀型號:HAD-SCE
1、用途：用于各種類大米（精米、糙米、糯米等）各項外觀品質指標的精準自動檢測，可進行多參數、批量化的自動分析。
2、系統組成：雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦（電腦另配）。
3、主要性能指標：
★配光學分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀來成像（中晶 ScanMaker i800 Plus）。透掃幅面30 c

詳細介紹

大米外觀品質檢測儀/稻米品質分析儀米質判定儀型號:HAD-SCE

1、用途：用于各種類大米（精米、糙米、糯米等）各項外觀品質指標的精準自動檢測，可進行多參數、批量化的自動分析。
2、系統組成：雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦（電腦另配）。
3、主要性能指標：
★配光學分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀來成像（中晶 ScanMaker i800 Plus）。透掃幅面30 cm×20 cm，小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
★可自動一次性測量分析30g以上大米樣品的：堊白度/率、碎米率及小碎米率、整精米數量、整精米率、大米透明度、黃粒米、雜質量、異品種粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動分析大米的碾米精度、裂紋率，以及糙米胚芽率。
自動測量每粒的面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑（長度測量誤差≤±0.05mm，長寬比測量誤差≤±0.05，重現性誤差≤±0.02；整精米率、碎米率指標測量誤差≤±1.0%、重現性誤差≤±0.25%）。可大批量自動分析處理與輸出結果。與國標GB/T1350稻谷、GB/T17891優質稻谷或GB1354大米、*新標準【大米】NY/T2334-2013等標準相對應，檢測各項指標的重量比和粒數比。各分析圖像、分布圖、結果數據可保存，分析結果輸出至Excel表，可輸出分析標記圖。
★具有自動學習與識別特性，可自動分割粘連的大米、種粒，可做自動分類分析。
★具有樣本條碼、電子天平RS232數據軟件接口。可兼測的種粒直徑范圍0.3-20mm（厚15 mm），自動測量精度≥99%，交互修正后準確率達。

注：本技術標書中打★款項必須響應，否則為重大偏離

選配電腦*：聯想一體機（雙核CPU /2G內存/512M獨立顯卡/500G硬盤/ 20”彩顯/DVD-RM /無線網卡）。

關鍵詞：標準電子天平