顯微顆粒圖像粒度儀,顯微圖像采集系統(tǒng) 型號：HAD-TT180
HAD-TT180顯微顆粒圖像粒度儀是推出的新一代顆粒圖像分析設(shè)備，HAD-TT180采用的工業(yè)級顯微圖像采集系統(tǒng)，使樣品觀測更加清晰。分析軟件系統(tǒng)能夠?qū)悠返?ldquo;單體數(shù)據(jù)”、“形態(tài)參數(shù)”、“整體分布”等參數(shù)進行分析和計算，可以輕松獲得樣品的整體分布規(guī)律的曲線圖和顆粒形態(tài)描述等豐富數(shù)據(jù)，是對各類顆粒樣品進行觀測和分析的專業(yè)儀器設(shè)備。配套的專業(yè)顆粒分析軟件根據(jù)多年來用戶的使用意見進行了更加人性化的升級和改進，由計算機自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性”、以及包括長徑比、球型度在內(nèi)的“形態(tài)參數(shù)”。再通過進一步計算得出此樣品的整體分布情況（包含整體分布曲線等豐富數(shù)據(jù)），軟件中還增加了多幅圖像拼接計算的模式，成倍增加了參與分析的顆粒數(shù)量，從而有效的保證了數(shù)據(jù)的代表性。后可將樣品的數(shù)據(jù)以報告的形式輸出（包含有圖像范例、圖表、數(shù)據(jù)列表等），非常便于測試人員對測試結(jié)果進行管理和匯報。
HAD-TT180 顯微顆粒圖像儀技術(shù)參數(shù)及詳細配置
技術(shù)參數(shù)：
硬件參數(shù) |
顯微系統(tǒng) | 物鏡 | 4X、10X、40X、60X、100X（油）長距消色差（平場）物鏡組 |
目鏡 | 1X、10X、16X 大視野攝像目鏡 |
載物臺 | 手動三維機械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置 |
光源 | 底部透射光源，6V 20W鹵素燈,亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器） |
總放大倍數(shù) | 4倍——1600倍 | |
輔助光源 | 鹵素光源 |
粒徑分析范圍 | 1μm～2000μm |
攝像系統(tǒng) | 高分辨率 | 2048×1536 |
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm |
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS |
產(chǎn)品優(yōu)勢
HAD-TT180顯微顆粒圖像儀作為專業(yè)的顆粒圖像分析儀器，是專為顆粒或顆粒相關(guān)行業(yè)設(shè)計開發(fā)的，它的突出優(yōu)勢主要體現(xiàn)在以下方面：
1. 專業(yè)性強：與其他廠家生產(chǎn)的各種類型圖像分析儀器相比，顆粒測試研究經(jīng)驗與圖像學(xué)理論結(jié)合。本產(chǎn)品不但可對樣品的顆粒單體進行科學(xué)描述，還可以將顆粒的分布情況使用數(shù)據(jù)、圖表等方式進行直觀表現(xiàn)。能夠獨立或輔助激光粒度儀等設(shè)備更好的進行顆粒測試工作。
2.數(shù)據(jù)直觀、易懂，分析結(jié)果一目了然：常見的顆粒測試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等，但在進行顆粒檢測的同時還可觀測樣品形貌的直觀性優(yōu)勢是其他所有顆粒測試設(shè)備所不具備的，這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過程等信息。并且，對照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解報告中的數(shù)據(jù)含義。
3.應(yīng)用廣泛，性價比*：“HAD-TT180顯微顆粒圖像儀”既可以作為一種觀測儀器，替代傳統(tǒng)顯微鏡進行各種樣品的觀測工作，又可以計算樣品的各項數(shù)據(jù)，操作直觀簡便，應(yīng)用范圍十分廣泛。
說明：電子顯微鏡為選配，按客戶要求配置
