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    北京恒奧德儀器儀表有限公司
                                
                
                
    

							
    
                       
			
    
		
    
	
    
	
	
    
		
    
            
    
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    經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家
    
						
    商鋪產(chǎn)品：14875條
    
						
    所在地區(qū)：北京北京市
    
						
    聯(lián)系人：王蕊 （經(jīng)理）
    												
					
    
				
    
			
    			
    
				
    
                    技術(shù)文章
                
    
                
    
					
    
						
    高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀概述
    
						
    閱讀：95發(fā)布時間：2016-10-11
    
					
    
					
    高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：KDK-LT-1
    1、 用途
    用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。
    2、 設(shè)備組成
    2.1、光脈沖發(fā)生裝置
    重復(fù)頻率＞25次/s      脈寬＞60μｓ          光脈沖關(guān)斷時間＜0.2-1μｓ
    紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶）   脈沖電流：～20A
    如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
    2.2、高頻源
    頻率：30MHz       低輸出阻抗      輸出功率＞1W
    2.3、放大器和檢波器
    頻率響應(yīng)：2Hz～2MHz
    2.4、配用示波器
    配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。
    3、測量范圍
    KDK-LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ
     
    
				
    
			
    
			
    
		
    
	
    
    	
	
    
		
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