半導體激光器老化篩選及壽命綜合測試系統 簡介
專門針對單管、單bar和陣列激光器器件進行老化篩選和對壽命指標進行評價的試驗設備。設備包括功率測量模塊（積分球、功率計等）、電源模塊、溫度控制模塊、保護電路模塊、巡檢模塊、總控模塊、控溫機箱和自動化組成，實現了對激光器器件老化壽命試驗的自動化監控和保護。
針對半導體激光器開發的老化壽命測試系統。測試過程通過保護電路進行實時保護，測試結果實時顯示，實現測試數據存儲、統計分析以及報表打印等功能。
半導體激光器老化篩選及壽命綜合測試系統特點
完整的系統硬件結構
- 恒溫試驗箱
- 程控脈沖電源
- 溫度控制模塊
- 過壓、過流、過溫保護電路
- 巡檢系統
- 工業用計算機
- 帶散熱裝置的機柜
自動化的功能實現
- 自動實現半導體激光器功率的測量
- 對半導體激光器進行老化篩選及壽命測試
- 硬件可擴充、更換
- 自動化快速測量
- 測試信息、狀態、參數實時顯示
- 波形實時顯示與分析
- 測試數據自動存儲
- 測試結果判斷和安全信息提示
- 自動生成測試報告
型號 | 系統名稱 |
2600A | 單管半導體激光器綜合壽命測試系統 |
2600B | 單bar半導體激光器綜合壽命測試系統 |
2600C | 陣列半導體激光器綜合壽命測試系統 |
自動化的功能實現
- 獨立環境溫度控制箱，有效去除環境溫度變化對試驗結果的影響；
- 試驗數據自動采集、記錄，并可同步對壽命試驗數據進行統計分析；
- 每個試驗器件帶有獨立的保護電路，確保器件免受過熱、過電沖擊；
- 負載施加、參數測試、電路保護集成自動控制；
- 試驗器件溫度水冷控制，采用智能溫控PID進行控溫；
- 適合C-Mount、F-Mount、CS、VS、G-Stack等多種封裝形式。
集成化、模塊化硬件設計采用集成化控制，上位機軟件對各個功能模塊進行集中控制，保證系統的有序運行。
可靠易用、功能強大的系統軟件
試驗前在軟件設置參數，系統將自動運行和監控，每一個器件實現獨立保護和報警。測試界面如下：
系統開發數據庫軟件，具有強大的數據管理和分析功能，自動判斷器件是否合格，記錄數據、波形分析以及生成測試報告等。
典型應用
半導體激光器老化壽命測試系統現已在中國科學研北京半導體研究所、*公司第四十四研究所、鞍山大德光電科技有限公司、*電子第五研究所（重點實驗室）等激光器專業研究所和生產企業得到了廣泛應用和推廣，大大提高了激光器老化篩選和壽命評價試驗的自動化程度、試驗效率以及數據比對準確度和可參考價值。
技術指標
功能 | 單管激光器老化壽命測試系統 | 單bar激光器老化壽命測試系統 | 陣列激光器老化壽命測試系統 |
工位數量 | 60（可定制） | 40（可定制） | 6（可定制） |
電流范圍 | 連續：0-20A 準連續：0-20A，占空比≤20% | 連續：0-100A 準連續：0-300A，占空比≤20% | 連續：0-200A 準連續：0-300A，占空比≤20% |
電壓范圍 | 60V內自適應 | 30V內自適應 | 200V內自適應 |
功率范圍 | 1-20W（CW）/1-20W（QCW） | 1-250W（CW）/1-500W（QCW@≤20%占空比） | 1-5000W（CW）1-8000W（QCW@≤20%占空比） |
波長范圍 | 400-1300nm | 400-1300nm | 400-1300nm |
環境溫度 | 25℃,溫度均勻性± 2℃ | 25℃,溫度均勻性± 2℃ | 25℃,溫度均勻性± 2℃ |
器件溫度 | 25-70 ℃ | 25-70 ℃ | 25-70 ℃ |
