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TT260S涂層測厚儀

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更新時間：2025-02-20 08:34:41瀏覽次數：116次

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產品簡介

TT260S涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

詳細介紹

TT260S涂層測厚儀特點：

采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
可使用6種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
設有五個統計量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）；
可采用單點校準和兩點校準兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；
具有存貯功能：可存貯495個測量值；
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；
可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；
具有電源欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示；

設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；

TT260S涂層測厚儀測量原理：

磁性法(F型測頭)

當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

2. 渦流法(N型測頭)

利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產
生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚
度。

TT260S涂層測厚儀可選探頭參數表

測頭型號

F400

F1

F1/90

F10

N1

CN02

工作原理

磁感應

電渦流

測量范圍（um）

0-400

0-1250

0-10000

0-1250(銅上鍍鉻0-40um)

10-200

低限分辨力(um)

0.1

0.1

10

0.1

1

示值誤差

一點校準(um)

±［3%H+1］

±［3%H+10］

±［3%H+1.5］

±［3%H+1］

兩點校準(um)

±［(1～3)%H+0.7］

±［(1～3)%H+1］

±［(1～3)%H+10］

±［(1～3)%H+1.5］

-

測量條件

*小曲率半徑(mm)

凸 1

凸1.5

平直

10

3

平直

基體*小面積的直徑(mm)

ф3

ф7

ф7

ф40

ф5

ф7

*小臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.5

2

0.3

無限制

覆蓋層基體		有機材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等)		非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
覆蓋層基體		覆蓋層厚度不超過100µm	覆蓋層厚度超過100µm	覆蓋層厚度不超過100µm	覆蓋層厚度超過100µm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測面積的直徑大于30mm	F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm	F1 型測頭 0～1250µm F10 型測頭 0～10mm	F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm	F1 型測頭 0～1250µm F10 型測頭 0～10mm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測面積的直徑小于30mm	F400 型測頭 0～400µm	F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm	F400 型測頭 0～400µm	F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬	被測面積的直徑大于5mm	N1 型測頭 0～1250µm		僅用于銅上鍍鉻N1 型測頭 0～40µm
塑料、印刷線路非金屬基體	被測面積的直徑大于7mm	-	-	CN02 型測頭10～200µm

TT260S 涂層測厚儀標準配置：

名稱	數量
主機	1臺
F1或N1測頭	1只
標準片	5片
基體	1塊
產品包裝箱	1個
使用說明書	1本

TT260S 涂層測厚儀可選附件：

其它探頭

軟件

關鍵詞：涂層測厚儀標準測厚儀

TT260S涂層測厚儀

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測頭型號		F400	F1	F1/90	F10	N1	CN02
工作原理		磁感應				電渦流
測量范圍（um）		0-400	0-1250		0-10000	0-1250(銅上鍍鉻0-40um)	10-200
低限分辨力(um)		0.1	0.1		10	0.1	1
示值誤差	一點校準(um)	±［3%H+1］			±［3%H+10］	±［3%H+1.5］	±［3%H+1］
示值誤差	兩點校準(um)	±［(1～3)%H+0.7］	±［(1～3)%H+1］		±［(1～3)%H+10］	±［(1～3)%H+1.5］	-
測量條件	*小曲率半徑(mm)	凸 1	凸1.5	平直	10	3	平直
	基體*小面積的直徑(mm)	ф3	ф7	ф7	ф40	ф5	ф7
	*小臨界厚度(mm)	0.2	0.5	0.5	2	0.3	無限制

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