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更新時間:2016-03-29 09:11:09瀏覽次數(shù):117次
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WJ-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀
是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。
WJ-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀
WJ-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。并且我單位是微波反射法國家標準起草單位之一。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法,適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數(shù)載流子壽命的測量,提供無接觸、無損傷、數(shù)字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況,是半導體質量的重要檢測項目。
壽命測量范圍:0.25μs-10ms;樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。
讀數(shù)方式:數(shù)字直讀。
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