北京金時速儀器設備經營部
<tfoot id="qqie6"></tfoot>
<ul id="qqie6"></ul> 北京金時速儀器設備經營部
WJ-100C型微波光電導載流子復合壽命測試儀
是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。
WJ-100C型微波光電導載流子復合壽命測試儀
WJ-100C型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。并且我單位是微波反射法國家標準起草單位之一。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于硅塊、1mm厚度以下硅片、電池片少數載流子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體質量的重要檢測項目。
壽命測量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。
讀數方式：數字直讀。
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網 設計制作，未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
