北京金時速儀器設備經營部
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手持式回損儀
設計用于測量各種光器件、光鏈路的反射衰耗，控制光纖接頭質量，在光纖安裝和系統運行的過程中，可測試光回損質量，是應用于現場的*化解決方案。可分別用做光回損測試儀、光功率計、光源，并具有數據存儲功能。
產品介紹:
JW3308手持式回損儀設計用于測量各種光器件、光鏈路的反射衰耗，控制光纖接頭質量，在光纖安裝和系統運行的過程中，可測試光回損質量，是應用于現場的*化解決方案。可分別用做光回損測試儀、光功率計、光源，并具有數據存儲功能。
技術指標
光回損測試 | |
測試波長（nm） | 1310/1550 |
譜寬（nm） | <5 |
顯示范圍（dB） | 6~70 |
精度（dB） | ±0.5 |
分辨率（dB） | 0.01 |
光功率計 | |
波長范圍（nm） | 850 ～ 1650 |
校準波長（nm） | 850、1300、1310 、1490、 1550 、 1625 |
檢測器類型 | InGaAs |
顯示模式 | dBm 、dB 、W |
顯示范圍（dBm） | －70 ～＋6 |
zui大輸入功率（dBm） | ＋6 |
分辨率（dB） | 0.01 |
精度（dB） | 0.3 |
光源 | |
波長（nm） | 1310/1550 |
譜寬（nm） | <5 |
zui大輸出功率（dBm） | -3 |
穩定度（dB，30min） | ± 0.05 |
調制頻率（HZ） | CW, 270, 1K, 2K |
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