四探針電阻率測試儀KDY-1型
KDY-1型四探針電阻率測試儀是嚴格按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
儀器特點如下：
1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更。
數字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍：10—4 —1.9×104Ω·cm。
可測方塊電阻范圍：10—3 —1.9×105Ω/□。
3、設有電壓表自動復零功能，當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、流經硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機測量精度＜3%。
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、可加配電腦，使用軟件進行數據采集,實現自動換向測量、存儲,求平均值，zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內容。
7、可配KDDJ-2電動測試架，自動上下運行，使測量更方便快捷。
8、四探針頭采用上*的紅寶石軸套導向結構，使探針的游移率減小，測量重復性提高（*已于2005.02.02授予權，號：ZL03274755.1）。
