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其他: 電容表 Waveform Builder 軟件晶圓檢測系統(tǒng) 晶片測試分類機(jī) 觸碰面板多點(diǎn)半自動(dòng)測試機(jī) VLSI測試系統(tǒng) Test-In-Tray測試分類機(jī) SoC 測試系統(tǒng) 33010 High Speed PXIe Digital IO Card 3680 Advanced SoC/Analog Test System 終端測試分類機(jī) 直流電源供應(yīng)模組通用型機(jī)箱可程控邏輯腳位模組高精準(zhǔn)電源量測單元電源供應(yīng)模組 PXI延伸卡可程式直流電源供應(yīng)器 OLED 壽命週期測試系統(tǒng) High Speed PXIe Digital IO Card Model 33010 液氮真空管路小物件落下機(jī) 扭力測試機(jī) 開合測試機(jī) 高加速壽命測試機(jī) 多組開合測試機(jī) 多軸振動(dòng)機(jī)系列

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	進(jìn)口	加工定制	是

3360 VLSI測試系統(tǒng)
主要特色：
?50 MHz 測試頻率
?608 個(gè) I/O 通道
?8M （標(biāo)準(zhǔn)） /16M （選購） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結(jié)構(gòu) （互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD）
?平行測試可達(dá) 32 devices
?Real Parallel Trim/Match 功能

詳情介紹

3360 VLSI測試系統(tǒng)

主要特色：

50 MHz 測試頻率
608 個(gè) I/O 通道
8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體
彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
平行測試可達(dá) 32 devices
Real Parallel Trim/Match 功能
直接裝設(shè) SC312, TS670 針測卡
測試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K,TS670, ND1)
Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
SCAN test 選配 (512M)
ALPG test 選配供記憶體用
STDF 工具支援
人性化 Windows XP 操作環(huán)境
CRAFT C/C++ 程式語言
即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display,Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.