泰克DSA8300 數字采樣示波器 返回列表頁

功能

優勢

電模塊信號測量準確度：

超低系統抖動（典型 <100 fs）

> 70GHz

<100 fs 本底抖動允許對高位速率（40 和 100 (4´25) Gb/s）設備進行檢定，典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定（數據速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數據速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波）。

所有帶寬上系統噪聲業內zui低：

600 µV zui大（450 µV 典型）@ 60 GHz

380 µV zui大（280 µV 典型）@ 30 GHz

zui大程度降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量，避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。

單臺主機內zui多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動。

多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試，提高多個高速串行通道系統的測試吞吐量。

光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網所有標準速率的光*性測試。

為單模和多模光標準提供經濟實惠、功能多樣的光測試系統，從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太網）和 100 Gb/s 以太網（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波長 850、1310 和 1550nm。

優異的采集吞吐量，采樣率zui高 300 kS/s。

通過優異的系統吞吐量，可將制造或設備檢定測試時間縮短 4 倍。

能夠將采樣器放到被測設備 (DUT) 的附近。

遠程采樣頭zui大程度降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化，簡化測試系統的反嵌。

獨立的已校準通道相差校正。

雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正，消除時滯，增強多通道測量的信號保真度。