主要特點
SPECTRO XEPOS 臺式偏振X射線熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器。擴展的偏振光學系統使用50W低能量的X射線管作為輻射源，用于Na-U元素的同時分析。從X射線管中發出的原始X射線通過高通量偏振光學系統進行轉換，得到的*偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。 SPECTRO XEPOS可廣泛地應用于石油、化工、冶金、礦業、制藥、食品、環保、地質、建材、廢物處理以及再加工工業等。以油中各種元素的分析為例。使用SPECTO XEPOS，在氦氣保護狀態下，在300秒鐘之內，對于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的檢測下限在1-7μg/g以上。 XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩定性好，可應對歐洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標準。
詳細介紹
儀器簡介：
SPECTRO XEPOS 臺式偏振X射線熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器。擴展的偏振光學系統使用50W低能量的X射線管作為輻射源，用于Na-U元素的同時分析。從X射線管中發出的原始X射線通過高通量偏振光學系統進行轉換，得到的*偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。
SPECTRO XEPOS可廣泛地應用于石油、化工、冶金、礦業、制藥、食品、環保、地質、建材、廢物處理以及再加工工業等。以油中各種元素的分析為例。使用SPECTO XEPOS，在氦氣保護狀態下，在300秒鐘之內，對于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的檢測下限在1-7µg/g以上。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩定性好，可應對歐洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標準。
技術參數：
1.功率50W，zui大電壓50KV，zui大電流2mA
2.50W端窗Pd靶X光管
3.硅漂移計數器，分辨率小于170eV
4.3位置次級靶自動轉換系統，即3束X激發光源。
5.可選真空、充氣、常壓系統
主要特點：
1.偏振X光激發樣品，具有極低的背景，的靈敏度
2.真正意義的Na-U的全分析，無需濾光片。
3.分析的含量范圍ppm級到
4.極為豐富的軟件系統，提供各種方法及校正模式。
