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半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀

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更新時(shí)間：2018-05-15 14:49:59瀏覽次數(shù)：233次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

博曼半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡(jiǎn)單、快速、無(wú)損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。

詳細(xì)介紹

博曼半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
行業(yè)用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，LED支架，五金電鍍，連接器等……多個(gè)行業(yè)表面鍍層厚度的測(cè)量.
應(yīng)用領(lǐng)域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)；金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
博曼半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
元素分析范圍：從AL到U
一次性可同時(shí)分析多層鍍層
分析厚度檢測(cè)出限zui高達(dá)0.01um
同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型，厚度分析方法
多次測(cè)量重復(fù)性zui高可達(dá)0.01um
*工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
溫度適應(yīng)范圍：15℃~30℃
輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
博曼結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡(jiǎn)單、快速、無(wú)損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
如果您有什么問(wèn)題或要求，請(qǐng)您隨時(shí)。您的任何回復(fù)我們都會(huì)高度重視。金東霖祝您工作愉快！

二手膜厚儀回收及評(píng)估
專業(yè)從事進(jìn)口X熒光光譜儀 X射線測(cè)厚儀維修校準(zhǔn)的服務(wù)商。提供檢修更換X光管、高壓電源、探測(cè)器、控制電路板等核心部件、并升級(jí)或者以舊換新、以壞換好。
另我們*收購(gòu)/出售二手X射線鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、測(cè)厚儀等分析檢測(cè)儀器。
售前/售后服務(wù).以及儀器的評(píng)估高價(jià)回收換購(gòu) 和租賃服務(wù)等
德國(guó)菲希爾 FISCHER X-RAY XDLM-C4 XMDVM-T7.1W XDL-B XUL XULM XDV-u 、膜厚儀。

關(guān)鍵詞：電子元器件連接器光譜儀測(cè)厚儀高壓電源