HONEYWELL 30731808-503 好品質(zhì) 返回列表頁

HONEYWELL 30731808-503有效帶寬法

　　有效帶寬法（Effective Bandwidth，簡稱EBW）從嚴(yán)格意義來說是一個定性的傳輸線損耗α的測量，無法提供定量的插入損耗值，但是提供一個稱之為EBW的參數(shù)。有效帶寬法是通過TDR將特定上升時間的階躍信號發(fā)射到傳輸線上，測量TDR儀器和被測件連接后的上升時間的zui大斜率，確定為損耗因子，單位MV/s.更確切地說，它確定的是一個相對的總損耗因子，可以用來識別損耗在面與面或?qū)优c層之間傳輸線的變化［8］。由于zui大斜率可以直接從儀器測得，有效帶寬法常用于印制電路板的批量生產(chǎn)測試。EBW測試示意圖如圖4所示。

　　圖4 EBW測試示意圖

　　2.3 HONEYWELL 30731808-503根脈沖能量法

　　根脈沖能量法（Root ImPulse Energy，簡稱RIE）通常使用TDR儀器分別獲得參考損耗線與測試傳輸線的TDR波形，然后對TDR波形進行信號處理。RIE測試流程如圖5所示：

　　圖5 HONEYWELL 30731808-503測試流程圖

　　2.4 HONEYWELL 30731808-503短脈沖傳播法

　　短脈沖傳播法（Short Pulse Propagation，簡稱SPP）測試原理為利用測量兩條不同長度的傳輸線，如30 mm和100 mm，通過測量這兩個傳輸線線長之間的差異來提取參數(shù)衰減系數(shù)和相位常數(shù)，如圖6所示。使用這種方法可以將連接器、線纜、探針和示波器精度的影響降到zui小。若使用高性能的TDR儀器和IFN（Impulse Forming Network），測試頻率可高達40 GHz.

　　圖6 SPP測試圖和測試流程

　　2.5單端TDR差分插入損耗法

　　單端TDR差分插入損耗法（Single-Ended TDRto Differential Insertion Loss，簡稱HONEYWELL 30731808-503）有別于采用4端口VNA的差分插損測試，該方法使用兩端口TDR儀器，將TDR階躍響應(yīng)發(fā)射到差分傳輸線上，差分傳輸線末端短接，如圖7所示。SET2DIL法測量典型的測量頻率范圍為2 GHz ~ 12 GHz，測量準(zhǔn)確度主要受測試電纜的時延不*和被測件阻抗不匹配的影響。SET2DIL法優(yōu)勢在于無需使用昂貴的4端口VNA及其校準(zhǔn)件，被測件的傳輸線的長度僅為VNA方法的一半，校準(zhǔn)件結(jié)構(gòu)簡單，校準(zhǔn)耗時也大幅度降低，非常適合用于PCB制造的批量測試，如圖8所示。

　　圖7 HONEYWELL 30731808-503與SET2DIL差分損耗測試結(jié)構(gòu)圖

　　圖8 HONEYWELL 30731808-503批量測試圖

HONEYWELL 30731808-503測試設(shè)備及測試結(jié)果

　　采用介電常數(shù)3.8、介質(zhì)損耗0.008、RTF銅箔的CCL分別制作SET2DIL測試板、SPP測試板和Multi-Line TRL測試板；測試設(shè)備為DSA8300采樣示波器和E5071C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀；各方法差分插入損耗測試結(jié)果如表2所示。