半導體粉末電阻率測試儀 返回列表頁

半導體粉末電阻率測試儀  型號：TC-FZ-2006

一、產品用途：

本產品參照有關標準設計。于半導體粉末和固體的電阻率測量，直接數(shù)字顯示電阻或電阻率值，穩(wěn)定可靠，價格低廉。配置粉末測試臺或四探針測試臺可以對粉末、片狀、塊狀材料及固態(tài)金屬測試，測量范圍：電阻率為10-2--105Ω·cm，分辯率為0.1mΩ·cm。

儀器主主要包括電氣箱和測試架兩部分組成，電氣測試部分由高精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感和加壓機構、粉末標準容器，壓力機構采用手動操作、壓力平穩(wěn)。儀器有自校功能。儀器采用通用的電流、電壓降法，即四端子測量法，兩介電流和電壓電同時和樣品接觸，可以消除連接系統(tǒng)所帶來的誤差。克服二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實準確測量粉末樣品的電阻率，測量精度高，穩(wěn)定性、重復性好。使用方便。

本儀器是檢驗和分析半導體固態(tài)和粉態(tài)樣品質量的重要工具，于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠等企業(yè)以及高等院校和科研部門。

二、主要技術指標

1．測量范圍：電阻10-2--105Ω，分辨率0.1mΩ。

             電阻率10-2--105Ω·cm,分辨率0.1mΩ·cm。

             測量誤差±（0.3%讀數(shù)+2字）。

2．測量電壓量程：20mV、200mV、2V，分辨率10μV。

             測量誤差±（0.3%讀數(shù)+2字）。

3．測量電流：0--100mA連讀可調。

電流量程：10μA、100μA，1mA 、10mA、100mA。

4．試樣粒度：標準篩網40目以下直至納米材料。

5．試樣容器：內腔Φ16.30±0.1mm，Φ10±0.1mm。可選用

6．試樣高度：16mm±0.5mm, 10mm±0.5mm測量誤差±0.1mm

7.  取樣壓力::4Μpa±0.05Μpa（40kg/cm2±0.5kg/cm2）

8.  顯示方式: 3 1/2 數(shù)量字顯示電阻、電阻率、壓力、單位、小數(shù)點。自動顯示。

9． 電源：220V±10%，50--60HZ，功率消耗<150W

10．外形：電氣箱，440mm×110mm×320mm

半導體粉末電阻率測試儀

產品名稱：數(shù)字示波器/數(shù)字示波儀 產品型號：DS1102E

數(shù)字示波器/數(shù)字示波儀型號：DS1102E

1. 混合信號示波器（MSO）配備16通道邏輯分析儀
（DS1000D）
2. 實時采樣率1 GSa/s, 存儲深度高達1 Mpts
3. 豐富的觸發(fā)功能：邊沿、視頻、脈寬、斜率、交替

4. 5.6英寸 64k色TFT LCD，清晰顯示波形
5. 緊湊的設計，節(jié)約實驗臺桌面空間
6. 集成USB Host & Device, 支持U盤存儲和PictBridge
打印機

產品名稱：差示掃描量熱儀 產品型號：DSCHP 停產

差示掃描量熱儀型號：DSCHP

DSCHP差示掃描量熱儀介紹: 
　　　材料的物理過程和化學反應會受到氣體壓力的影響，需要在一定壓力下進行DSC測試。 
     DSCHP差示掃描量熱儀是我公司推出的一款DSC,用于測量在一定壓力下材料內部熱轉變相關的溫度、熱流的關系。 　　　

    應用范圍廣泛，應用于：氧化穩(wěn)定性、聚合物固化反應、相轉變、熔融、黏合劑的交聯(lián)、氧化誘導期、模擬實際反應環(huán)境和特定氣氛下測量、測量與沸點有關的壓力等。 

DSCHP差示掃描量熱儀主要特點: 
1.特殊的爐體結構，確保下基線的穩(wěn)定性和重復性 
2.安全防護系統(tǒng)，保障0-5MPa壓力范圍的安全性 
3.儀器采用雙向控制（主機控制、軟件控制），界面友好，操作簡便 


DSCHP差示掃描量熱儀技術參數(shù): 
1. DSC量程:  0～±500mW 
2. 溫度范圍: 室溫~600℃   
3. 壓力范圍: 0~5MPa     
4. 升溫速率: 1~60℃/min 
5. 溫度分辨率: 0.1℃ 
6. 溫度波動: ±0.1℃ 
7. 溫度重復性: ±0.1℃ 
8. DSC噪聲: 0.01μW 
9. DSC解析度: 0.01μW 
10.DSC精確度: 0.1μW 
11.DSC靈敏度: 0.1μW 
12.控溫方式: 升溫、恒溫（全自動程序控制） 
13.曲線掃描: 升溫掃描 
14.顯示方式: 24bit色，7寸 LCD觸摸屏顯示 
15.數(shù)據(jù)接口: 標準USB接口 
16.參數(shù)標準:   配有標準物質（錫），用戶可自行校正溫度和熱焓