杭州晶飛科技有限公司
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<ul id="qqie6"></ul> 杭州晶飛科技有限公司
技術規格：
測試功能參數 | 技術指標 | 備 注 |
測試項目 | POL、VF、IF、VFL、IR、 VR、 mcd、lm | |
| 適用燈型 | 二腳單晶、二腳雙晶、四腳雙晶、四腳三晶、六腳三晶 | |
| I/O數量 | SOT 3位；EOT 3位；PIN號10位； | |
| 正向電流輸出分檔及精度 | 4uA檔(0.01uA)----0.5%量程±3個字讀數 40uA檔(0.01uA)----0.3%量程±3個字讀數 400uA檔(0.1uA)----0.3%量程±3個字讀數 4mA檔(0.001mA)----0.3%量程±3個字讀數 40mA檔(0.01mA)----0.3%量程±3個字讀數 400mA檔(0.1mA)----0.3%量程±3個字讀數 | |
| 正向電流測試分檔及精度 | 4uA檔(0.01uA)----0.5%量程±3個字讀數 40uA檔(0.01uA)----0.3%量程±3個字讀數 400uA檔(0.1uA)----0.3%量程±3個字讀數 4mA檔(0.001mA)----0.3%量程±3個字讀數 40mA檔(0.01mA)----0.3%量程±3個字讀數 400mA檔(0.1mA)----0.3%量程±3個字讀數 | |
| 正向電壓輸出分檔及精度 | 0-5V(0.001V)-----0.1%量程±3個字讀數 5-20V(0.01V)------0.1%量程±3個字讀數 | 可定制50V |
| 正向電壓測試分檔及精度 | 0-5V(0.001V)-----0.1%量程±3個字讀數 5-20V(0.01V)------0.1%量程±3個字讀數 | 四線制測量， 可有效消除探針接線電阻影響 |
| 反向電壓輸出分檔及精度 | 同正向電壓 | |
| 反向漏電測試分檔及精度 | 同正向電流 | |
| mcd測試范圍 | 0-20000mcd | 配合光強裝置測試 |
| mcd測試精度 | <3% | 和第三方實驗室測試數據對比 |
| lm測試范圍 | 0-10000lm | 配合不同積分球測試 |
| lm測試精度 | <3% | 和第三方實驗室測試數據對比 |
| 測試速度 | (設置延時+1.5ms)*燈芯數量 | |
| 通訊接口 | USB2.0接口；RS232接口 | 適用于普通電腦主板 |
| 供電電源 | AC220V/0.5A | |
| 尺寸 | 200mm*350mm |
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