鉑悅儀器（上海）有限公司武漢辦事處
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X射線熒光光譜分析法（XRF）的原理：原子受原級X射線激發后，發出次級X射線熒光。因此，XRF 分析法可以：
? 根據熒光的波長和能量，確定元素；
? 各元素的濃度可根據熒光的強度進行計算。
X射線由Mo靶或W靶產生，在Ni/C人工多層膜上反射并單色化。扁平的光束以非常小的角度(0.3 – 0.6 °)掠射裝有樣品的樣品架，并產生全反射。樣品所產生的特征熒光被能量色散探測器(XFlash® detector) 探測，強度通過偶合的多通道分析器測量。
與常規的XRFzui大的不同，全反射熒光（TXRF）是使用了單色光和全反射光學部件。以全反射光束照射樣品，降低了吸收、以及樣品及襯底材料對光的散射。結果是大大降低了背景噪音，因此有高的多的靈敏度和明顯地降低了基體效應。
全反射熒光(TXRF)的zui主要優點是，相對于其他原子波譜分析法，如AAS 或 ICP-OES，無記憶效應。
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