HAST非飽和高壓加速老化箱應用范圍：　　HAST非飽和高壓加速老化箱)主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠...

HAST老化壽命試驗箱應用范圍：　　HAST老化壽命試驗箱的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統...

HAST高壓加速壽命試驗箱【簡單介紹】　　HAST高壓加速壽命試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或...

PCT高溫高濕蒸煮儀【簡單介紹】　　PCT高溫高濕蒸煮儀 用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀...

PCT蒸汽老化壓力鍋應用范圍：　　PCT蒸汽老化壓力鍋主要 是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架...

PCT高壓加速壓縮機應用范圍：　　PCT高壓加速壓縮機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之...

PCT高壓加速壽命試驗機應用范圍：　　PCT高壓加速壽命試驗機的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或...

PCT高壓高溫蒸汽壓力鍋應用范圍　　PCT高壓高溫蒸汽壓力鍋主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導...

HAST加速壽命試驗性能　　測試環境條件:環境溫度為+25℃、相對濕度≤85%,試驗箱內無試樣條件下測試方法:GB/T 5170.2-1996 溫度試驗.　　溫...

HAST加速壽命試驗應用范圍：　　HAST加速壽命試驗主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之...

PCT高壓加速壽命機【簡單介紹】　　高壓PCT高壓加速壽命機應用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計...

PCT老化試驗箱【簡單介紹】　　PCT老化試驗箱高壓加速壽命老化試驗箱的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮...

HAST非飽和高壓加速老化試驗箱【簡單介紹】　　HAST非飽和高壓加速老化試驗箱廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制...

PCT高壓蒸煮試驗箱【簡單介紹】　　PCT高壓蒸煮試驗箱廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 加...

HAST高壓加速壽命試驗【簡單介紹】　　HAST高壓加速壽命試驗主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體...

HAST非飽和高壓加速老化試驗箱應用范圍：　　HAST非飽和高壓加速老化試驗箱)主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試

HAST高壓加速老化試驗箱應用范圍：　　HAST高壓加速老化試驗箱的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產...

HAST非飽和高壓加速老化試驗機【簡單介紹】　　HAST非飽和高壓加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣...

桌上型PCT老化試驗箱【簡單介紹】　　桌上型PCT老化試驗箱 用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的...

PCT加速老化試驗箱應用范圍：　　PCT加速老化試驗箱主要 是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架...