HAST測試儀【簡單介紹】　　HAST測試儀主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封...

HAST測試儀【簡單介紹】　　HAST測試儀 用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失...

HAST高壓蒸煮儀設備特點：　　1. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.　　2. 圓幅內膽,不銹鋼圓弧型內膽設計...

HAST高壓加速老化試驗機的設備特點：　　1. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.　　2. 圓幅內膽,不銹鋼圓弧...

HAST高壓加速壽命試驗機應用范圍：　　HAST高壓加速壽命試驗機的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產...

HAST高加速壽命試驗應用范圍：　　HAST高加速壽命試驗主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線...

一、HAST老化壽命試驗箱的詳細資料：　　1、箱體;2、真空、加熱、制冷系統;3、控制系統。　　二、HAST老化壽命試驗箱主要技術指標　　1.工作室尺寸：100...

HAST加速壽命試驗機適用于太陽能光伏、國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封...

HAST高壓加速壽命試驗【簡單介紹】　　HAST高壓加速壽命試驗應用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的...

HAST非飽和加速老化【簡單介紹】　　HAST非飽和加速老化廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。...

HAST非飽和高壓加速老化試驗箱【簡單介紹】　　HAST非飽和高壓加速老化試驗箱廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制...

HAST高壓加速老化試驗箱【簡單介紹】　　HAST高壓加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或...

HAST試驗箱應用范圍：　　HAST試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝...

HAST高溫高壓測試儀【簡單介紹】　　HAST高溫高壓測試儀應用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計...

HAST高度加速老化試驗箱箱【簡單介紹】　　HAST高度加速老化試驗箱箱的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，...

HAST非飽和高壓加速老化箱應用范圍：　　HAST非飽和高壓加速老化箱)主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠...

HAST老化壽命試驗箱應用范圍：　　HAST老化壽命試驗箱的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統...

HAST高壓加速壽命試驗箱【簡單介紹】　　HAST高壓加速壽命試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或...

PCT高溫高濕蒸煮儀【簡單介紹】　　PCT高溫高濕蒸煮儀 用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀...

HAST加速壽命試驗性能　　測試環境條件:環境溫度為+25℃、相對濕度≤85%,試驗箱內無試樣條件下測試方法:GB/T 5170.2-1996 溫度試驗.　　溫...