儀器校準中的誤差及來源

儀器校準中的誤差及來源

1.測量誤差的含義

測量的目的是確定被測量的真值，但在測量過程中，由于測量器具本身的誤差以及受到測量方法、測量條件諸因素的制約，其測得值往往不是被測量的真值勤，兩者之間必然存在著差異。這種由于測量的不完善造成的測得值與被測量真值之間的差異，稱為測量誤差。

2.測量誤差的來源

測量誤差的來源是多方面的，主要來源如下：

標準器具誤差

線紋尺、量塊等標準器具本身也是有誤差的，如線紋尺的刻線誤差，量塊中心長度的制造誤差，以及它們的檢定誤差。標準器具的誤差是測量誤差的主要來源之一。

測量器具誤差

測量器具誤差是指測量器具的內在誤差。

原理誤差 設計測量器具時以近似的實際工作原理代替理論工作原理所造成的誤差稱為原理誤差。例如，以線性標尺代替理論上要求的非線性標尺造成的誤差原理誤差往往已在設計時進行修正，故可忽略不計。

阿貝誤差 由于量儀的結構或工件的安置違背“阿貝原則”所造成的誤差稱為阿貝誤差。“阿貝原則”是要求被測長度與基準長度安置在同一直線上的原則。

制造與裝調誤差 測量器具的各個零部件的制造與裝調誤差都會引起測量誤差。例如，表盤的制造安裝誤差測微螺桿的螺距誤差，光學系統的放大倍數、鑒別率的誤差以及電器元件各參數誤差等。

讀數方式誤差 對于采用指針或指標線對準刻線進行計數的裝置所造成的讀數方式誤差由對準誤差、視差和估讀誤差三部分組成。

測量方法誤差

測量方法不同，測量誤差的來源也不同。

間接測量的函數誤差 采用間接測量時，需按一定的函數關系計算測量誤差。

測量力引起的誤差 采用接觸測量時，為了保證可靠的接觸，必須給測頭施加一定的測量力。測量力將使被測工件和測量器具的零部件產生彈性變形或其它狀態的變化（如間隙、摩擦等狀態之變化），引起測量誤差一般測量中此項誤差可以忽略，但在精密測量或對小尺寸、軟材料測量時，應予以分析、估算并在必要時加心修正。接觸測量中壓陷量的計算公式。

定位安裝方法誤差 由被測工件測量基面的選定及其安裝方式所造成的誤差稱為定們安裝方法誤差當所選擇測量基面與設計基面或工藝基面不重合時，會產生定位方法誤差。若測量基面選擇正確，則由于安裝方式的不同，也會產生不同的測量誤差，例如，測量軸徑時，若將工件置于平臺上，就存在素線形狀誤差的影響，而安裝在小球臺上，并在擺中測量，就不存在安裝方式的影響。