分析天平校驗用砝碼等級要求

分析天平校驗用砝碼等級要求

原則上，天平的校準砝碼應當高于天平的準確度等級。
十萬分之一的，小刻度是0.01mg，屬于一等天平（特種準確度級），用高等E1或E2砝碼校準。
 萬分之一的，小刻度是0.1mg，屬于一等天平，用標準E2砝碼校準。
 千分之一的，小刻度是1mg，屬于二等天平，用F1砝碼校準。
 百分之一的，小刻度是0.01g，屬于三等天平，M1或F2砝碼校準。

十分之一的，小刻度是0.1g，屬于三級電子秤，M1砝碼校準。

對于相同量程的天平在同一個實驗室使用的，幾臺可以共用一套砝碼，如您所買的砝碼是E2等級的套裝，那么相同量程的十萬分位、萬分位、千分位、百分位\十分位的天平都可以用此套裝來校準。

分析天平校驗用砝碼等級要求

目  的Purpose：建立規范化的電子分析天平校準規程，確保其稱量的準確性和可靠性。

范  圍Scope：化驗室所有的電子分析天平的校準。

職責人Responsibility：校準人員。

規  程Procedure：  

1 校準條件Calibration condition

 1.1 環境條件 

1.1.1 電源電壓應在220V±10%之間，電源頻率在50HZ±2%之間。

 1.1.1 室溫10～30℃，相對濕度小于65％。

 1.1.2 室內應無腐蝕性和影響測定的氣體。 

1.1.3 周圍應無影響校正的強電場、強磁場、氣流和振動等。

 1.2 校準工具  鑷子；砝碼：5mg、10mg、20mg、50mg、100 mg、500 mg、1g、5 g、10g、20g、50g，200g標準砝碼。

2 天平的每月校驗Electronic analytical balance monthly calibration

 2.1 準確度誤差 

2.1.1 開啟分析天平前確定天平水平，零點正確。

 2.1.2 開啟分析天平電源，預熱1小時以上。

 2.1.3 校驗員校驗時，必須戴上手套，使用鑷子夾取砝碼。依次將標準砝碼放于天平上稱重，記錄稱量值。

2.1.4 依據下表中計量標準進行結果判定

注：按天平的稱量范圍選擇適合的標準砝碼進行校驗并判斷結果 

2.1.5 結果判定：經校驗稱量結果符合上述要求的天平判為正常；經校驗稱量結果不符合上述要求的天平判為不正常。

2.2 四角誤差（偏載誤差） 

2.2.1 對電子天平進行四角誤差測試時，標準砝碼加在秤盤不同位置上，天平的示值均應保持在大允許誤差之內。

 2.2.2 對于方形秤盤，砝碼應放在中心、左前角、左后角、右前角、右后角五個位置；對于圓形秤盤，砝碼應放在中心、前、后、左、右五個位置（成十字形）。 

2.2.3 四角誤差為各點示值與中心點示值之差中值大者；分度值為萬分之一的天平選取20mg的標準砝碼，四角誤差應不大于0.5mg，分度值為十萬分之一的天平選取10mg的標準砝碼，四角誤差應不大于0.05mg。 

2.3 校驗周期：每月一次，每月的校驗結果記錄在“分析天平月校驗記錄表”上。

3 天平的每個工作日校驗Electronic analytical balance each working day calibration

 3.1 每個工作日，用天平常用的量程范圍的三個標準砝碼（如分度值為萬分之一的用500mg、50g和200g的砝碼，分度值為十萬分之一的用20mg、500mg和50g的砝碼）對天平進行校驗，校驗的過程和可接受標準均同2.1規定。

3.2 每天的校驗結果記錄在“分析天平日校驗記錄表”上。  

 產品特點

生產標準：OIML - R111，JJG99-2006 砝碼檢定規程

  結    構：實心整體

  材    質：無磁不銹鋼

  密    度：7.96g/cm3

  磁 化 率：＜0.005

  極化強度：＜8   

  形    狀：片狀&圓柱形    

▲表面處理：鏡面拋光;拉絲砂光

▲包裝：環保塑盒/鋁盒/紙箱，符合FDA、SGS認證

▲內襯：環保泡棉，符合FDA、SGS認證

▲標識：均用激光打標  

分析天平校驗用砝碼等級要求