納米材料的計量檢測項目明細

                            納米材料的計量檢測項目明細

納米材料的計量測試設備通常包括:場發射透射電子顯微鏡、原子力顯微鏡、X射線衍射儀、光電子能譜儀等微區微貌測試設備。主要用于進行納米測量和納米材料測試研究。納米計量和納米材料檢測與評價技術研究是納米技術的重要組成部 分,為發現納米領域的新現象、研究新方法、 創造新產=品提供基礎技;術支持和服務;納米材料和器件的測量和具體性能測試將是判斷和識別納米科技產品的重要和基本的技術指標，是規范市場的重要技術保證:隨著知識經濟的發展和世界貿易的化,進入市場的產品必須滿足相應的質量檢驗要求,實現國家標準和檢驗實驗室報告的相互認可，這對消除技術性貿易壁壘具有重要的現實意義，對提高城市綜合競爭力和保持可持續發展具有長遠而深遠的意義。

納米材料計量檢測項目:

測量刻蝕掩模、磁介質、 CD/DVD、生物材料、光學材料和其他樣品的表面特性(AFM)。:

測量半導體材料的摻雜濃度和禁帶寬度(SCM)。:

表面形貌觀察、微觀結構觀察、粒度分析、斷面性質分析、微區成分分析(SEM鐵掃描電鏡)。:

形貌觀察、物相分析、晶體結構測定、缺陷分析、成分分析、元素分布分析和化學狀態分析(Fe-TEM)。:

固體樣品表面的成分和化學狀態分析。能在納米層區域進行定性、半定量和價態分析;

定性定量分析，晶粒大小和畸變,晶系測定,晶格常數精度，高分子材料，納米材料,長周期，粒度分布分析,極點，應力，薄膜測試(XRD)。:

固體比表面積、孔體積和孔分布的測量(比表面積和孔院率分析儀)。:

樣品表面比表面積的紅外光譜。:

納米和亞微米尺寸顆粒或乳液的粒度分析可以測量平均粒度和多分散指數(PcS)。:

亞微米和微米尺寸顆粒或乳液的粒度分析可以測量粒度分布、平均粒度和中值直徑(激光衍射粒度分析儀。:

測量各種純液體中0.4-1200毫米范圍內的顆粒數量和顆粒尺寸分布(顆粒計數器)。.