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<ul id="qqie6"></ul> “國之大器 始于毫末"，納米科學與技術是當今國家戰略新興科技領域之一。納米技術在材料制備、分析、功能化材料等方面有著**優勢，被廣泛應用于生物醫學、環境保護、信息技術、人工智能、新能源、新材料等領域。
得益于服務新能源、制藥以及各工業領域三十年的粒度粒形檢測與樣品質量控制技術的積累，珠海歐美克儀器有限公司在成功引進和吸收馬爾文帕納科 (Malvern Panalytical)納米顆粒表征技術后，于2023年8月1日正式推出全新升級的NS-90 Plus納米粒度分析儀和NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀，以更*的粒度和電位分析性能，新穎易操作的新軟件界面滿足廣大納米材料、制劑開發和生產用戶的顆粒粒度和Zeta電位的測試需求！
▲ 歐美克NS-90Z Plus 納米粒度及電位分析儀
（點擊圖片查看儀器詳情）
其中的NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀在上一代NS-90Z的基礎上進一步優化了光學電子測量技術和分析性能，采用動態光散射技術測量粒子和顆粒的粒度，采用電泳光散射技術測定顆粒Zeta電位和電位分布，同時兼有靜態光散射技術用于測定蛋白質與聚合物等的分子量。
該儀器適用于對分子、蛋白質、聚合物、膠體、乳液、懸浮液及各種復雜配方制劑體系等樣品的測試分析。
典型應用
• 膠體和乳液表征
• 藥物分散體系、乳液和疫苗等制劑配方和工藝開發
• 脂質體和囊泡的開發
• 蛋白質及其聚集體的評價
• 電極漿料及助劑的粒徑、分散和穩定性表征
• 涂覆材料分散性能預測
• 納米金等高電導率溶膠的改性
• 墨水、碳粉、染料和顏料性能改進
• 優化水處理中絮凝劑的使用
• 膠體、乳液、漿料穩定性評價
• 確定多種復雜制劑的混合、均質等加工工藝參數
NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀通過優化的光學設計、光纖光路傳輸設計及高性能光源、信號采集和處理硬件，提高了散射光信號識別能力并減少了雜散光干擾，確保了儀器測試結果的高準確性、靈敏度和重現性，提高了測試速度，拓展了適宜的樣品測試范圍。
NS-90Z Plus融合馬爾文帕納科恒流模式下的M3-PALS快慢場混合相位檢測分析技術，有效緩解電極極化的影響，使得結果重現性更好，準確性更高，且可獲得電位分布的信息。相比上一代產品，NS-90Z Plus能滿足具有更高電導率的樣品的Zeta電位和電泳遷移率測試，同時可以提高電位樣品池的使用次數。
▲ 快慢場混合相位檢測Zeta電位分布、相位、頻移及電壓和電流圖
與此同時，NS-90Z Plus測試后會在數據質量指南模塊下根據測試情況自動生成智能化專家指導意見，為如何進一步優化測試或樣品處理提供可行方案建議。
該技術可以同時協助用戶快速判讀粒度、Zeta電位和電位分布結果的可信度，有利于減少測試數據的錯誤，及時發現和改善因方法或環境發生變化而引起的測試質量變化。
為了進一步方便用戶使用，NS-90Z Plus提供標準化操作程序(SOP)簡化常規測量，具有兼容CFDA GMP《計算機化系統和確認與驗證》要求的審計、權限管理及電子簽名功能；自動配置各種樣品的最佳硬件和算法設置，亦可手動設置；操作簡單，無須準直、校正或額外保養。
▲ 用戶權限配置和管理功能示意圖
1
NS-90Z Plus良好的重現性
60nm標號乳膠微球標樣 (Thermal，標稱值：62±3nm)
2
NS-90Z Plus提升了粒徑上限分析性能
10μm標號標樣的測試*
*：采用微毛細管樣品池進行粒度分析。
3
NS-90Z Plus**的分辨力
60nm、200nm雙標樣混合樣品
4
NS-90Z Plus電位和電位分布的測量
ZTS1240電位標樣
深耕粒度檢測及顆粒表征領域三十年，歐美克始終堅信技術創新和誠信經營是企業的發展之本。自2010年歐美克成為英國思百吉集團成員之后，結合集團先進的研發管理經驗，堅強的技術支持后盾和全球化供應鏈體系，歐美克推出多款深受行業客戶青睞的顆粒表征系列國產好儀器。
在“十四五"規劃和2035年遠景目標綱要明確要求加快推進制造強國、質量強國建設的國家大背景下，歐美克儀器始終肩負中國顆粒表征領域的先導及創新者的職責，始終堅定讓微觀更可知，讓用戶更進步，讓世界更美好的企業使命。
NS-90Z plus及NS-90 Plus納米粒度及電位分析儀系列產品的升級面市，必將為新興科技領域行業客戶提供了更完整、高效、專業的粉體粒度檢測整體解決方案，助力行業客戶創新驅動、高值發展、成就微觀無限潛能！
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