多項職業能力測量儀/綜合反映時測定儀 返回列表頁

多項職業能力測量儀/綜合反映時測定儀  型號：DP-EP202

多項職業能力測量儀/綜合反映時測定儀  型號：DP-EP202產品概述：
各類反應時間的測定是心理教學中的常見的實驗內容，主要用于對個體反應時間的研究。本儀器分別測量在不同聲、光條件下和在不同光色條件下的反應速度。依此也可以測定交通職人員、體育運動員等職業人員的反應快慢，為培訓和選拔各類業工作者提供科學的測試手段。
1. 聲光反應屬于反應時類型中的簡單反應時。按隨機呈現聲、光刺激，被試做出固定反應，通過實驗測試、數據處理、統計、計算來驗證不同刺激下的感官反應、練習的程度，以及被試的準備狀態、心理狀況等對反應時的影響。
本儀器通過四色發光二管起點亮作為光刺激，而聲刺激則是通過儀器內部的壓電蜂鳴器發出聲響作為刺激源，另用四個光電按鈕作為被試的反應部件。
2. 選擇反應是在四種顏色的光刺激下的選擇反應時間。本儀器通過四色發光二管作為光刺激，用對應四種顏色的四個光電按鈕作為反應部件。
3. 辨別反應考量的是對四種顏色光做出辨別后再行反應的時間。本儀器中，規定被試對某定顏色光做出反應而對其他色光不反應，用個光電按鈕作為反應部件。
4. 運動反應要求被試在接受刺激后作出個肢體動作來表征反應。本儀器使用不同的開關（聲控開關，手握開關，腳踏開關）來作為反應部件。

多項職業能力測量儀/綜合反映時測定儀  型號：DP-EP202參數：

閃爍頻率： 8.0Hz－60.0Hz
顯示精度： ≤±0.1Hz
亮點顏色： 紅，綠，黃
電 源： AC 220V±22V 50Hz
功 耗： ＜5VA
環境溫度： 0－40℃
遮 光 罩： 200×150×60mm3
重 量： 1kg
外形尺寸： 200×170×80mm3

無線壓電流互感器變比測試儀 型號:DP-9500

產品點

測量：低壓電流互感器二次回路的電流、變比、比差、角差、相別、性、漏電流在線測試監控；變壓器兩側電流大小、變比在線測試監控；空電流、漏電流測試；二次回路核相、相序判斷功能。

無線壓變比測試儀突破傳統結構，為測量低壓二次回路的電流、變比、漏電流而精心制的，采用CT及掩膜數字集成，由用壓檢測儀、低壓電流鉗、主機、壓緣桿、監控軟件等組成，其無線傳送測試數據能穿透多層樓房障礙，直線傳輸距離達300米。若不使用緣桿，還可以當作精度低壓鉗形電流表、漏電流表使用，能準確測出0.01mA～1000A的電流或漏電流。 

手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號:DP-3

概述
DP-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.DP 標準。
儀器成套組成：由DP-3主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動/自動轉換量程可選；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
探頭選配：根據不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭點與選型參考》點擊入
儀器具有測量精度、靈敏度、穩定性好、 化程度、結構緊湊、使用簡便等點。
儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。 
三、基本參數
1. 測量范圍、分辨率
電    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cDP， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cDP
方塊電阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
直    徑：DPT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130DPDP。
DPT-C方測試臺直接測試方式180DPDP×180DPDP。
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100DPDP。.
測量方位: 軸向、徑向均可.

 量程劃分及誤差等

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重：≤0.3kg

數字式四探針測試儀/臺式四探針電阻率測試儀 型號:DP-2258C

概述
DP-2258C型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀贈設測試結果分類功能，Z大分類10類。
探頭選配：根據不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-T-A或DP-T-B或DP-T-C或DP-T-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-T-K型測試臺，也可選配DP-T-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-T-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的點與選型參考》
儀器具有測量精度、靈敏度、穩定性好、 化程度、結構緊湊、使用簡便等點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數
1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個數量）
電    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
         （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□ 
         （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直    徑： DP-T-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-T-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長()度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
測量方位:  軸向、徑向均可

量程劃分及誤差等

工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5．外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（）

凈   重：≤1.5～2.0kg

自動表面/界面張力儀/表面張力儀 型號：DP/BZY-203

DP/BZY系列自動表面/界面張力儀除了升降系統是手動操作外，。具有性能，經濟型定位的點，有著的性價比。

主要征： 
1. 鉑金板或鉑金環測試原理，操作簡單方便； 
2. 自動數字化測量，減少人為操作誤差； 
3. 全量程鍵清零，瞬間成，零位無漂移； 
4. 全量程自動校正，數據準確可靠、重復性好； 
5. 鉑金板測試時，顯示值即為試樣的表面/界面張力值，鉑金環測試時，具有峰值保持功能，需通過Exce計算或通過數據處理軟件自動換算成表面/界面張力值；
6. 儀器結構緊湊，立工作。也可選配數據處理軟件，得到更多的信息；
7. 能測量試樣的表面張力因時間不同而產生的變化（別是有表面活性劑或含有揮發性物質時，限鉑金板測試模式下）；
8. 自動量測中、粘度液體樣品并得到準確的平衡結果（限于鉑金板測試模式）； 
9. 可測量不相混合液體之間界面張力如：油/水界面； 
10.可全取代傳統機械式表面張力儀，且精度更、重復性、使用更方便；
11.本系列儀器除了手動控制試樣平臺升降外，主要結構和參數與QBZY系列相仿，具有品質、經濟型價格，性價比。

主要參數：

注：準確性誤差、重復性誤差都是指測試標準物質（2次蒸餾水或純乙醇）與文獻值的差異 

注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的