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465次四探針導體/半導體電阻率測量儀/四探針導體/半導體電阻率測試儀 型號：DP-SB100A/1
DP-SB100A磁電阻薄膜的磁電阻測量儀
DP-SB100A/1四探針導體/半導體電阻率測量儀
使用環境為5~40℃，相對濕度<80%，供電220V 50Hz，為實驗室環境使用。
DP-SB100A和DP-SB100A/1為原DP-SB100和DP-SB100/1的改型。
DP-SB100A由磁場電源DP-SB119型穩壓電源，亥姆霍茲磁場線圈，DP-SB118型直流電壓電流源，DP-PZ158A型直流數字電壓表以及四探針實驗平臺五部分組成。
DP-SB100A/1由DP-SB118型直流電壓電流源，DP-PZ158A型直流數字電壓表以及四探針實驗平臺三部分組成。
其中：
磁場電源：DP-SB119型直流穩壓電源能產生0~60V連續可調電壓，Z大額定電流為輸出，詳見本公司產品DP-SB119。
亥姆霍茲磁場線圈：由2只相同類型的線圈分別固定在樣品平臺的襯盤兩側。線圈在實驗平臺上可360º轉動，能產生磁場0~150奧斯。
DP-SB118型電壓電流源：既可輸出5µV~50V，5檔可調電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA~100mA，5檔可調電流，基本誤差為±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產品SB118。
DP-PZ158A直流數字電壓表：其為1臺6½位的Z分辨力可達0.1µV，可測量0~1000V直流電流的儀表。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產品DP-PZ158A。
四探針實驗平臺：其由底盤，可旋轉360º的襯盤，在襯盤上的樣品平臺以及在樣品平臺上安置的四探針組成。詳見本公司產品實驗平臺。
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