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    變溫霍爾效應實驗儀 使用說明

    時間:2013/5/16閱讀:2828
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    DP-HT-648型變溫霍爾效應實驗儀

                        使用說明書

     

    霍爾效應的測量是研究半導體性質的重要實驗方法。利用霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)合測量,可以用來確定半導體的導電類型和 載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導率隨溫度的變化,可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。本儀器采用現(xiàn)代電子和計算機數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),對霍爾樣品在弱場條件下行變溫霍爾系數(shù)和電導率的測量,來確定半導體材料的各種性質。

     

    、基本原理

    1.霍爾效應和霍爾系數(shù)

       霍爾效應是種電流磁效應(如圖)

                          B     a

                                                Z

                        l   HHH              d

                                                 UH

                                                 Y

     


     

                                                   

    Is                  X

                   

       霍爾效應示意圖

     

       當半導體樣品通以電流Is,并加垂直于電流的磁場B,則在樣品兩側產(chǎn)生橫向電勢差UH這種現(xiàn)象稱為“霍爾效應”,UH稱為霍爾電壓,    1

        2           RH叫做霍爾系數(shù),d為樣品厚度。

    對于P型半導體樣品,     3 式中q為空穴電荷電量,p為半導體載流子空穴濃度。

            對于n型半導體樣品,    4式中為n電子電荷電量。

    考慮到載流子速度的統(tǒng)計分布以及載流子在運動中受到散射等因素的影響。在霍爾系數(shù)的表達式中還應引入霍爾因子A,則(3)(4)修正為p型半導體樣品    5), n型半導體樣品,     6)。A的大小與散射機理及能帶結構有關。在弱磁場(般為200mT)條件下,對球形等能面的非簡并半導體,在較溫度(晶格散射起主要作用)情況下,A=1.18,在較低的溫度(電離雜質散射起主要作用)情況下,A=1.93,對于載流子濃度的簡并半導體以及強磁場條件A=1

    對于電子、空穴混合導電的情況,在計算RH時應同時考慮兩種載流子在磁場偏轉下偏轉的效果。對于球形等能面的半導體材料,可以證明:

        7

    式中  UpUn分別為電子和空穴的遷移率,A為霍爾因子,A的大小與散射機理及能帶結構有關。

           從霍爾系數(shù)的表達式可以看出:由RH的符號可以判斷載流子的型,正為P型,負為N型。由RH的大小可確定載流子濃度,還可以結合測得的電導率算出如下的霍爾遷移率UH

    UH=|RH|σ      8

    對于P型半導體UH=UP,對于N型半導體UH=UN

        霍爾系數(shù)RH可以在實驗中測量出來,表達式為

        9

    式中UHIsdB分別為霍爾電勢、樣品電流、樣品厚度和磁感應強度。單位分別為伏(V)、安培(A),米(m)和斯拉(T)。但為與文獻數(shù)據(jù)相對應,般所取單位為UH 伏(V)、Is毫安(mA)、d厘米(cm)、B斯(Gs 、則霍爾系數(shù)RH的單位為厘米3/庫侖(cm3/C)。

           但實際測量時,往往伴隨著各種熱磁效應所產(chǎn)生的電位疊加在測量值UH上,引起測量誤差。(詳見講義)為了消除熱磁效應帶來的測量誤差,可采用改變流過樣品的電流方向及磁場方向予以消除。

           2.霍爾系數(shù)與溫度的關系

           RH與載流子濃度之間有反比關系,當溫度不變時,載流子濃度不變,RH不變,而當溫度改變時,載流子濃度發(fā)生,RH也隨之變化。

           實驗可得|R H |隨溫度T變化的曲線。

           3.半導體電導率

           在半導體中若有兩種載流子同時存在,其電導率σ

    σ=qpuP+qnun                         7

    實驗中電導率σ可由下式計算出

            σ=I/ρ=Il/Uσad         8

    式中為ρ電阻率,I為流過樣品的電流,Uσl分別為兩測量點間的電壓降和長度,a為樣品寬度,d為樣品厚度。

     

    二、實驗裝置

    圖(二)為測量儀器的結構框圖。它由電磁鐵、可自動換向穩(wěn)流源、恒溫器、測溫控溫系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等。

     

                                溫度測量及控制系統(tǒng)

            樣品桿             

     


     

                                  數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)

            斯拉計

                            恒溫器

     


     

                                電磁鐵      計算機及

                                        軟件系統(tǒng)   

     

     


     

                   

                    磁場可換向電源

        

    圖二   變溫霍爾實驗儀結構圖

     

    主要指標

    1.電磁鐵        0-300mT可調

    2. 勵磁電源  0-可調  可自動換向    穩(wěn)定性﹤±0.1%

    3. 數(shù)字斯拉計      0-2000mT    三位半數(shù)字顯示

    4. 恒流源輸出    1mA 穩(wěn)定性±0.1%

    5. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測量Z小分辨率1uV

    6. 溫度變化測量范圍      80-400K

    7.電源   220V50HzAC  200W   

     

     

    四、操作步驟及使用方法

    ()常溫下測量霍爾系數(shù)RH和電導率σ

    1.打開電腦、霍爾效應實驗儀(I)及磁場測量和控制系統(tǒng)(II

    電源開關。(以下簡稱III

         (如《II》電流有輸出,則按下《I》復位開關,電流輸出為零。)

    2.將霍爾效應實驗儀(I),<樣品電流方式>撥至“自動”, <

    量方>撥至“動態(tài)”,將II<換向轉換開關>撥至“自動”。

    按下《I》復位開關,電流有輸出,調節(jié)《II》電位 器,至電流

    為定電流值同時測量磁場強度。(亦可將II開關撥至手動,

    調節(jié)電流將磁場固定在定值,般為200mT2000GS)。

    3.將測量樣品桿放入電磁鐵磁場中(對好位置)。

    4入數(shù)據(jù)采集狀態(tài),選擇電壓曲線。如沒有入數(shù)據(jù)采集狀態(tài),則按下《I

         復位開關后入數(shù)據(jù)采集狀態(tài)。記錄磁場電流正反向的霍爾電壓V3V4V5V6

          可在數(shù)據(jù)窗口得到具體數(shù)值。

       5.將《I<測量選擇>撥至σ,記錄電流正反向的電壓V1V2

       6.按講義計算霍爾系數(shù)RH,電導率σ等數(shù)據(jù)。

     

    變溫測量霍爾系數(shù)RH和電導率σ

    1.    將《I<測量選擇>撥至RH”,將<溫度設定>調至Z小(往左旋到底,加熱指示燈不亮)

    2.    將測量樣品桿放入杜瓦杯中冷卻至液氮溫度。

    3.    將測量樣品桿放入電磁鐵磁場中(對好位置)。

    4.    重新入數(shù)據(jù)采集狀態(tài)。(電壓曲線)

    5.    系統(tǒng)自動記錄隨溫度變化的霍爾電壓,并自動行電流和磁場換向。到了接近室溫時調節(jié)<溫度設定>至Z大(向右旋到底)。也可開始就加熱測量。

    6.    到加熱指示燈滅,退出數(shù)據(jù)采集狀態(tài)。保存霍爾系數(shù)RH文件。

    7.    將《I<測量選擇>撥至σ

    8.    將測量樣品桿放入杜瓦杯中冷卻至液氮溫度。

    9.    將測量樣品桿拿出杜瓦杯。

    10. 重新入數(shù)據(jù)采集狀態(tài)。

    11. 系統(tǒng)自動記錄隨溫度變化的電壓,到了接近室溫時調節(jié)<溫度設定>至Z大。

    12. 當溫度基本不變,退出數(shù)據(jù)采集狀態(tài)。保存電導率σ文件 

    13. 根據(jù)實驗要求行數(shù)據(jù)處理。

     

     

    注:樣品為N型鍺 l=6mm a=4mmd=0.6 mm 

     

     

    霍爾效應的測量是研究半導體性質的重要實驗方法。利用霍爾系數(shù)和電導率的
    聯(lián)合測量,可以用來確定半導體的導電類型和 載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導

    率隨溫度的變化,可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本

    參數(shù)。本儀器采用現(xiàn)代電子和計算機數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),對霍爾樣品在弱場條件下行

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