光電子器件靜態(tài)冷熱沖擊試驗箱 返回列表頁

一、光電子器件靜態(tài)冷熱沖擊試驗箱用途：
     用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用。專門測試各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕的性能。本機可選擇中文或英文液晶顯示觸控式屏幕畫面，操作簡單，程序編輯容易，人性化設計。可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況相關數(shù)據(jù)、執(zhí)行及設定程序曲線。運轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況，屏幕即刻自動報警，顯示故障原因及提供排除故障方法。

二、光電子器件靜態(tài)冷熱沖擊試驗箱概述：
為了仿真不同電子構(gòu)件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。（需把握在失敗機制依然未受影響的條件下）RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)（可控制斜率的溫度沖擊）。
 

滿足標準介紹：

1.GB/T 10589-1989低溫試驗箱技術條件
2.GB/T 11158-1989 高溫試驗箱技術條件
3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗箱技術條件
4.GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法
5.GB/T 2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法
6.GB/T 2423.22-2002試驗N:溫度變化試驗方法
7.GJB150.3-1986高溫試驗
8.GJB150.4-1986低溫試驗
滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求

技術特點介紹：

◆ 可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（3H）、兩箱沖擊（2H）、高溫儲存、低溫儲存功能
◆ 等均溫速率可設定范圍5℃～30℃（40℃）
◆ 滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求
◆ 采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行
◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時完成
◆ 通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能
◆ 感測器放置測試區(qū)出（回）風口符合實驗有效性
◆ 機臺多處報警監(jiān)測，配置無線遠程報警功能

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