電腦芯片潮態測試箱技術參數-高低溫試驗箱 返回列表頁

電腦芯片潮態測試箱技術參數

冷熱沖擊試驗箱也叫高低溫沖擊試驗箱，該設備主要的定義是“溫度沖擊"，設備能在極短的時間里面，執行高溫降至低溫，也可以從低溫升至高溫。

一、冷熱沖擊試驗箱升降溫速錄分析：

冷熱沖擊試驗箱它的結構基本分為二箱式和三箱式兩種；它的升降溫速率（沖擊速率）國標是有嚴格規定的，一般無論二箱式還是三箱式動作時間必需小于15秒，恢復時間小于5分鐘。
快速升降溫（快速溫變試驗箱），它一般是一個箱體構成，但特殊的升降溫要求（升降溫速率要求過高時）時，也會采用兩個箱體；它的大升降溫速率一般大于國標規定的范圍，常見的有6攝氏度/分鐘至15攝氏度/分鐘的升降溫速率，但其速率可以像普通試驗箱一樣，通過儀表控制任意設定其速率。

二、冷熱沖擊試驗箱升降溫速率數據

1 、溫度沖擊范圍：-70℃、-60℃、-55℃、-40℃～+100、125、150、180℃
2 、溫度波動度：±0.5℃
3 、溫度偏差：≤2℃
4 、轉換時間：≤5秒
5 、溫度穩定時間：≤5分鐘

三、冷熱沖擊試驗箱技術特性

滿足標準：產品滿足CNSMIL、IEC、JIS、等標準
冷熱沖擊試驗箱主要技術指標：
冷熱溫度沖擊試驗箱/主要技術指標：
工作室尺寸： 400×400×500mm; （深×寬×高）
樣品架尺寸:150×150mm;
溫度恢復時間： 5min;
樣品架轉換時間：≤10s;
沖擊方式：三箱高低溫自動程式轉換方式

本產品嚴格符合GB/T5170.5-96、GB10586-89、GB/T2423.3-1993等標準，也可按客戶的要求制造非標準產品;我公司試驗箱已通過國家環境試驗設備檢測中心檢測合格。

電腦芯片潮態測試箱技術參數

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