振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)之測(cè)驗(yàn)技術(shù)

1、適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用以測(cè)定電子組件（以下簡(jiǎn)稱組件）于運(yùn)輸或使用中承受振動(dòng)之耐久性能之試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。

   注：試驗(yàn)方法Ⅰ適用于測(cè)定對(duì)一般振動(dòng)之耐久性，試驗(yàn)方法Ⅱ適用于測(cè)定共振點(diǎn)及試驗(yàn)方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點(diǎn)之偏距，試驗(yàn)方法Ⅲ適用于測(cè)定在共振點(diǎn)之耐久性。

2、裝置：振動(dòng)裝置應(yīng)能作表中所示各種試驗(yàn)且符合下列條件。

（1）振動(dòng)波形及失真率：施加于供試品之振動(dòng)波形為正弦波，供試品安裝位置之振動(dòng)加速度波形之備波含有率應(yīng)為25%以下。

（2）振動(dòng)振幅：規(guī)定振動(dòng)方向之振幅容許差，須為規(guī)定值之±15%以內(nèi)。

（3）與規(guī)定振動(dòng)方向垂直之振動(dòng)：于供試品安裝位置，與規(guī)定振動(dòng)方向垂直之振動(dòng)，不論任何方向，其振幅應(yīng)為規(guī)定方向之25%以下。

（4）振動(dòng)頻率容許差：50Hz以下就為±1Hz，超過(guò)50Hz時(shí)應(yīng)為±2%。

（5）掃描（1）方法：原則是為對(duì)數(shù)掃描，但平均掃描亦可。

                   注：（1）1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規(guī)定振動(dòng)頻率范圍作1次往復(fù)之頻率變化。

3、準(zhǔn)備

3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方法，直接或使用夾具堅(jiān)固地安裝于振動(dòng)臺(tái)上。使用夾具時(shí)，須能施加振動(dòng)于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方向，且?jiàn)A具應(yīng)具足夠機(jī)械強(qiáng)度，安裝后亦不得松動(dòng)或發(fā)生共振，組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定下列任一種安裝方法。

                  （1） 固定組件本體（有導(dǎo)線之組件，亦同時(shí)固定導(dǎo)線）。

                  （2） 僅固定導(dǎo)線。

4、試驗(yàn)

4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時(shí)，依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。

4．2 初期測(cè)定：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行，檢查外觀。

4．3 試驗(yàn)方法：依下列各項(xiàng)施行。如裝置產(chǎn)生磁導(dǎo)且供試品易受磁場(chǎng)影響時(shí)，于組件中應(yīng)規(guī)定其大允許值。

                   4．3．1 試驗(yàn)方法種類：試驗(yàn)方法分為Ⅰ（掃描耐久試驗(yàn)）、Ⅱ（共振點(diǎn)偏移檢出試驗(yàn)）及Ⅲ（共振點(diǎn)耐久試驗(yàn)）三種。

                                   （1）試驗(yàn)方法Ⅰ（掃描耐久試驗(yàn)）：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定，照下表施行（參照?qǐng)D）。

                                            振動(dòng)原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗(yàn)時(shí)間各方向均相同，合計(jì)6小時(shí)。

                                                                                                  表

                         （2）試驗(yàn)方法Ⅱ（共振點(diǎn)偏移檢出試驗(yàn)）：本試驗(yàn)是于4．3．1（1）及4．3．1（3）試驗(yàn)前后施行，以檢出供試品這共振頻率。檢出共振時(shí)之振幅與掃描耐久試驗(yàn)相同。但如由于減小振幅更能檢出振動(dòng)特性。可減小振幅。

                                                                                                                                                                          *次修訂：66年4月20日

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公  布  日  期                                                                                     修 訂日 期

62年11月8日               經(jīng) 濟(jì) 部 中 央 標(biāo) 準(zhǔn) 局 印 行                                                  年  月  日                                                                       

 CNS3629， C 6016                                                   —2—

                在掃描中檢出共振點(diǎn)時(shí)，減低規(guī)定之掃描程度，必要時(shí)可停止掃描。于掃描耐入試驗(yàn)前后檢出之共振頻率，均應(yīng)予以記錄。

                     （3）試驗(yàn)方法Ⅲ（共振點(diǎn)耐久試驗(yàn)）：本試驗(yàn)是就規(guī)定各振動(dòng)方向之振動(dòng)頻率，依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定，于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定                  

                                  之振動(dòng)頻率范圍內(nèi)作下列時(shí)間之試驗(yàn)。

                                  10分鐘     30分鐘      90分鐘    10小時(shí)      10周（cycle）

                4．3．2  電負(fù)載：組件標(biāo)準(zhǔn)有規(guī)定時(shí)，于4．3．1（1）、（2）、（3）試驗(yàn)中，施加電負(fù)載。

                4．3．3  后處理：原則上不作處后處理，但如有特別需要時(shí)，使組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。

                4．5 終測(cè)定：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行，且檢查外觀。

 5、組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定事項(xiàng)

（1）         安裝（安裝用具及安裝方法）（參照3．1節(jié)）

（2）         前處理?xiàng)l件（有需要時(shí)）（參照4．1節(jié)）

（3）         初期測(cè)定項(xiàng)目（參照4．2節(jié)）

（4）         磁場(chǎng)影響（參照4．3節(jié)）

（5）         試驗(yàn)方法種類及試驗(yàn)條件（參照4．3．1（1）、（2）、（3））

（6）         電負(fù)載條件（參照4．3．2節(jié)）

（7）         振動(dòng)試驗(yàn)中之測(cè)定項(xiàng)目（有需要時(shí)）（參照4．3．3節(jié)）

（8）         后處理?xiàng)l件（有需要時(shí)局（參照4．4節(jié)）

（9）         終測(cè)定項(xiàng)目（參照4．5節(jié)）

（10）      其他特別需要事項(xiàng)