維氏硬度計測量顯微鏡的正常使用
a. 尋找像平面
⑴針尖試樣應(yīng)采用“光點找像法”。
一般顯微硬度計測量顯微鏡物方視場只有O．25～0．35mm， 在此視場范圍外區(qū)域 在測量顯微鏡目鏡視場內(nèi)，眼睛是看不見的。而針尖類試樣往往小于0．1 mm，所以在安裝調(diào)節(jié)試樣時，很難把此調(diào)節(jié)在視場內(nèi) ；如果此在視場周圍而不在視場內(nèi)，則在升降工作臺進行調(diào)節(jié)時不小心就會把物鏡鏡片頂壞，即使不頂壞物鏡，找像也很困難 為解決這個問題，提出“光點找像法 方法。
開啟測量顯微鏡的照明燈泡 這時在物鏡下面工作臺上就有一個圓光斑，把針尖試樣垂直于工作臺安裝在此光斑的中心，升高工作臺，使此針尖的離開物鏡約1 mm 這時眼睛觀察部位，調(diào)節(jié)工作臺上的兩個測微絲桿．使物鏡下照明光點在前后左右對稱分布在此上(這一步驟必須仔細) 隨后緩慢調(diào)節(jié)升降機構(gòu)，這時在目鏡視場中即會看到一個光亮點。這就是此上的反射光點 再進一步調(diào)節(jié)升降即可找到此針尖的像。
⑵表面光潔度很高的試樣(如顯微硬度塊)應(yīng)采用邊緣找像法。
顯微硬度試驗中，試樣表面光潔度一般都是很高的，往往是鏡面表面上沒有明顯觀察特征，而顯微硬度計中所有高倍測量顯微鏡的景深都是非常小的，只有1～2“m 所以在調(diào)焦找像平面時，對于缺乏經(jīng)驗的操作者是很困難的，甚至會碰壞物鏡，所以操作者有的留用表面殘留痕跡來找像平面 但有時往往無殘留痕跡時 建議采用邊緣找像法。即按上述同樣方法使用照明光點(約為0．5～1 mm)的中心對準試樣表面輪廓邊緣，則在目鏡視場內(nèi)看到半亮半暗的交界處即為此輪廓邊緣，隨后進一步調(diào)節(jié)升降即可找到此表面邊緣的像。
⑶調(diào)焦
為找到正確成像位置 應(yīng)注意要調(diào)節(jié)使壓痕邊緣清晰 而不是壓痕對角線或?qū)蔷€交點清晰。我們需要測量的是這個四棱角錐體坑表面棱形的對角線長度。為幫助操作者掌握這一步驟，這里提出“視差判別法“ ，當用分劃板刻線或十字交點對準壓痕對角線時，人眼相對于目鏡左右移動，這時如調(diào)焦不正確，即壓痕邊緣象不*落在分劃板上，則會發(fā)現(xiàn)此邊緣相對于分劃線會左右移動。這說明調(diào)焦不正確，如人眼相對目鏡的位置不一致，則一定存在測量誤差，此時應(yīng)進一步調(diào)焦，直至此邊緣相對分劃線在人眼晃動時無相對位置才為正確。
