CMI900收二手膜厚儀、舊膜厚測試儀-紅外熱像儀 返回列表頁

CMI900收二手膜厚儀、舊膜厚測試儀
膜厚檢測儀器,膜厚分析儀器,膜厚測試儀規(guī)格介紹

       X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現(xiàn)對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量

應(yīng)用領(lǐng)域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。

CMI900收二手膜厚儀、舊膜厚測試儀特點

1、激光非接觸測量，不損傷工件。
2、高數(shù)據(jù)采集頻率，保證高效率測量。
3、激光測頭精度<1um，保證高精度測量。
4、外形設(shè)計美觀，內(nèi)部緊湊，體積小。
5、模組化設(shè)計，組裝維護更方便。
6、絲桿傳動，低噪音，定位準確，運行更平穩(wěn)。
7、高集成化電路設(shè)計，智能判斷故障點。
8、新版CNC 軟件，界面友好，操作簡單，穩(wěn)定性強。

CMI900收二手膜厚儀、舊膜厚測試儀

X射線熒光鍍層測厚儀有著非破壞，非接觸，快速無損測量，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。

CMI900收二手膜厚儀、舊膜厚測試儀

深圳市鼎極天電子有限公司主營產(chǎn)品：膜厚儀,鍍層測厚儀,膜厚測試儀,X射線測厚儀,鍍層厚度檢測儀,X熒光測厚儀