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X-Starata920熒光鍍層X射線測厚儀產品優勢
1、高性能、高精度、*穩定性
快速精確的分析帶來生產成本*化
精確測定元素厚度
優化的性能可滿足廣泛的元素測量
2、堅固耐用的設計
可靠近生產線或在實驗室操作
生產人員易于使用
3、簡單的校準調試
在沒有標準片時,經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果
方法建立只需幾分鐘
我們提供認證標準片以確保良好精確度(A2LA 和 ISO/IEC17025)
預置了多種校準參數
4、可分析多種樣品形狀和尺寸
可分析多種樣品類型,從微小的電子元件到浴室配件
提供多種硬件供選配,滿足各種需要
X-Starata920熒光鍍層X射線測厚儀在不同行業有著多種稱謂:
五金電鍍行業:膜厚儀,膜厚測試儀,電鍍測厚儀,電鍍層測厚儀,電鍍膜厚儀,無損膜厚儀, X 射線膜厚儀;
線路板行業:鍍層測厚儀,金鎳測厚儀, X-Ray 測厚儀, X 射線熒光鍍層測厚儀;
LED 支架行業:支架膜厚儀,支架鍍層測厚儀,支架功能區測厚儀,銀層測厚儀;
其他行業:無損鍍層測厚儀,大型膜厚儀,臺式鍍層測厚儀,金屬層測厚儀
X-Starata920熒光鍍層X射線測厚儀
測量精度
膜厚范圍 | *層(zui上層) | 第二層 | 第三層 |
小于0.5 µm (20 µin) | + 1 µin 或更好 | + 2 µin 或更好 | + 3 µin 或更好 |
大于0.5 µm | + 5% 或更好 | + 10% 或更好 | + 15% 或更好 |
含量 | *層 | 第二層 |
1--99 wt % |
| + 3 wt % 或更好
|
技術參數
項目名稱 | 具體描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射線激發系統 | ·垂直下照式X射線光學系統 ·50W(50kV,1.0mA)空冷式微聚焦型鎢W靶X射線管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
準直器系統 | ·單準直器組件; ·多準直器自動控制組件:zui多可同時裝配6種規格的準直器 ·園形、正方形、矩形和多種規格尺寸準直器任選(紅色為常用的):
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測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,zui小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品室 | 開槽式樣品室,測量大型平板樣品,如尺寸大于儀器寬度的線路板 |
項目名稱 | 具體描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射線激發系統 | ·垂直下照式X射線光學系統 ·50W(50kV,1.0mA)空冷式微聚焦型鎢W靶X射線管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
準直器系統 | ·單準直器組件; ·多準直器自動控制組件:zui多可同時裝配6種規格的準直器 ·園形、正方形、矩形和多種規格尺寸準直器任選(紅色為常用的):
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測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,zui小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品室 | 開槽式樣品室,測量大型平板樣品,如尺寸大于儀器寬度的線路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣 品 臺 |
固定樣品臺 ·Z軸自動控制,移動行程:43mm (1.7"),XY軸手動控制 ·zui大樣品高度33mm ·儀器外形尺寸(寬×深×高):407×770×305mm(16×30.3×12") | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
加深樣品臺 ·Z軸自動控制,移動行程:43mm (1.7"),XY軸手動控制 ·zui大樣品高度160mm ·樣品倉有4個位置卡槽,相鄰卡槽垂直間距25.4mm,樣品臺支架可放置在不同位置的卡槽上,可測不同高度的樣品 ·樣品倉內部尺寸(寬×深×高):279×508×152mm(11×20×6”) ·儀器外形尺寸(寬×深×高):407×770×400mm(16×30.3×15.7") ·自定義樣品臺:依據客戶要求提供更高的樣品臺,滿足高度>160mm的樣品測量,倉內設置多個位置卡槽,相鄰卡槽垂直間距25.4mm
自動樣品臺 ·Z軸自動控制,移動行程:43mm(1.7") ·XY軸自動控制,樣品臺移動行程:178×178mm(7x7”) ·zui大樣品高度33mm ·樣品臺尺寸(寬×深):610×560mm(24×22”) ·儀器外形尺寸(寬×深×高):610×1037×375mm(24×40.8×14.8") ·可提供對樣品的自動和編程控制,多點測量 ·鼠標控制樣品臺移動,精確地定位樣品測量點 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
鐳射聚焦 | ·鐳射用于自動精確定位X射線光管/探測器與樣品到測試距離 ·單擊鼠標,Z軸自動掃描 ·Z軸自動聚焦到焦距12.7mm,同時將樣品圖像定焦(顯示在屏幕上) ·避免了人為操作誤差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品觀察系統 | ·高分辨率彩色CCD觀察系統,標準光學放大倍數為30倍 ·可選50倍和100倍觀察系統 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
結果輸出 | ·測量數據報告可直接打印或一鍵導出到PDF文件、Excel文件,為質量管理保留寶貴的原始資料 ·測量數據報告可包含測量數據、測量樣品圖像、各種統計分析圖表、自定義的報告模板(系統預置模板、含用戶信息的自制模板) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
計算機系統配置 | ·IBM計算機 ·佳能彩色噴墨打印機 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分析應用軟件 | ·操作系統:Windows XP中文平臺 ·分析軟件包:SmartLink FP軟件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
系統安全性 | ·Z軸保護傳感器 ·安全防射線光閘 ·樣品室門開閉傳感器 ·X射線鎖 ·X射線警示燈 ·緊急停止按鈕 ·前面板安全鈕和后面板安全鎖 ·多用戶密碼保護,只向日常操作員設定有限的*,操作界面簡單,功能受限 ·主管人員可進行系統維護 ·系統自動生成操作員的使用記錄 ·開啟“自動鎖定”功能可以防止未*人員使用;測量結束后,超過預設的時*,軟件鎖定并要求輸入密碼 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式:“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量位置預覽功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光對焦和自動對焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
統計計算功能 | 平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
任選軟件:統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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