便捷式牛津CMI165表面銅厚測量儀-測厚儀 返回列表頁

便捷式牛津CMI165表面銅厚測量儀主要特點：

牛津儀器推出的cmi165，是世界帶溫度補償功能的面銅測厚儀，手持式設計符合人體工學原理。一直以來，面銅測量的結果往往受到樣品溫度的影響。cmi165的溫度補償功能解決了這個問題，確保測量結果精確而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測厚儀配有探針防護罩，確保探針的耐用性，即使在惡劣的使用條件下也可以照常進行檢測。

便捷式牛津CMI165表面銅厚測量儀產品規格： 

--利用微電阻原理通過四針式探頭進行銅厚測量，符合EN 14571測試標準 
--厚度測量范圍：化學銅：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils 
                電鍍銅：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils 
--強大的數據統計分析功能，包括數據記錄平均數、標準差和上下限提醒功能。 
--數據顯示單位可選擇mils、μm或oz 
--儀器的操作界面有英文和簡體中文兩種語言供選擇 
--儀器無需特殊規格標準片，同樣可實現蝕刻后的線型銅箔的厚度測量，可測線寬范圍低至0.2 mm(8mil) 
--儀器可以儲存9690條檢測結果（測試日期時間可自行設定） 
--測試數據通過USB2.0實現高速傳輸，也可保存為Excel格式文件 
--客戶可根據不同應用靈活設置儀器 
--用戶可選擇固定或連續測量模式 
--儀器使用普通AA電池供電 

便捷式牛津CMI165表面銅厚測量儀

深圳市鼎極天電子有限公司主營產品：膜厚儀,鍍層測厚儀,膜厚測試儀,X射線測厚儀,鍍層厚度檢測儀,X熒光測厚儀