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當前位置：深圳市鼎極天電子有限公司>>X射線測厚儀>> X-Starata920臺式熒光鍍層X射線測厚儀
臺式熒光鍍層X射線測厚儀主要特點：
可測元素范圍：鈦Ti22---鈾U92；
可測定5層（4層鍍層 底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；
進行貴金屬檢測，如Au karat評價；
材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；
測量精度高、穩定性好，測量結果精確至μin；
強大的數據統計、處理功能，測量結果輸出多樣化；
擁有NIST認證的標準片；
臺式熒光鍍層X射線測厚儀三種配置：
1.固定樣品臺
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經濟、實用
平面樣品臺設計，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
2.加深樣品臺
高度每英寸(25.4mm)可調，架構式樣品艙可容納zui大高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
3.程控樣品臺
用于自動化測量
方便根據測試位置放置樣品，并精準定位測量點
開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品，如印制線路板
樣品臺尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)
臺式熒光鍍層X射線測厚儀測量精度：
| 膜厚范圍 | *層（zui上層） | 第二層 | 第三層 |
| 小于0.5 µm （20 µin） | 1 µin 或更好 | 2 µin 或更好 | 3 µin 或更好 |
| 大于0.5 µm | 5% 或更好 | 10% 或更好 | 15% 或更好 |
| 含量 | *層 | 第二層 |
| 1--99 wt % |
| 3 wt % 或更好
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臺式熒光鍍層X射線測厚儀技術參數：
| 型號 | P920-S | P920-MWS | P920-MWM | P920-AM | |||
| 名稱 | 半自動 | 自動臺 | |||||
| 固定臺 | 單準直器加深臺 | 多準直器加深臺 | |||||
| 樣品圖片 |
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| 測量元素范圍 | Ti22---U92 | ||||||
| 鍍層和成分分析 | l 鍍層：zui多同時測定5層（4層鍍層 基體材料）鍍層 l 成分：zui多同時測量25種元素 | ||||||
| 測量方法 | l SmartLinkâFP（基本參數法） l 儀器預裝超過800種應用參數/方法 l 簡單直觀步驟建立應用 | ||||||
| X射線激發 | l 50kV、1.0mA(50W) l 空冷式微聚焦W靶X射線管，Be窗 l 垂直下照式X射線光學系統 l 安全防射線光閘 l 二次濾波組件，可選三個程控交換的濾波器，有效于X射線重疊譜的修正 | ||||||
| 成像系統 | l 彩色視頻系統 l 光學放大：30倍，可選項50倍 l 數字放大200% l 激光自動對焦 l 被測樣品圖像實時顯示功能 | ||||||
| 計算機系統 | l In Core i3-3240 3.40GHz，內存2G，硬盤500G，DVD光驅 l 17吋液晶彩色顯示器 l MicrosoftTM Win7 32bit | ||||||
| 樣品臺規格 | l 測量樣品高度≤33mm | l 測量樣品高度≤160mm l 樣品倉內部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm l 樣品倉抽屜式設計，4個位置上下可調，每格高度25.4mm l 自定義樣品臺：可依據客戶要求提供更高的樣品臺，滿足樣品高度＞160mm的測量 | l 測量樣品高度≤33mm l X-Y軸行程：寬×深178×178mm l 樣品臺尺寸：寬×深610×560mm l 自動送樣，無人自動測量 l 對樣品編程控制，自動多點測試和重復測試 l 鼠標控制樣品臺精確定位樣品 | ||||
| 儀器外形 寬×深×高 | 407×770×305mm | 407×770×400mm | 610×1037×375mm | ||||
| Z軸 | 使用鼠標控制，程控移動距離43mm | ||||||
| 準直器規格 | l 可選單準直器、多準直器 l 多準直器程控交換 l 可選園形、矩形準直器 l 園形準直器：Ø0.1、Ø0.15、Ø0.2、Ø0.3、Ø0.33、Ø0.5mm l 矩形準直器：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254、0.102x0.406mm l 單準直器標配：Ø0.3mm l 雙準直器標配：Ø0.1、Ø0.3mm l 四準直器標配：Ø0.15、Ø0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm | ||||||
| 探測器 | 正比例計數器 | ||||||
| 工作原理 | 對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析 | ||||||
| 安全性 | l 自動鎖定功能，防止未*的操作 l 簡單用戶界面只向日常操作員設定有限的* l 主管人員可進行系統維護 l 系統自動生成操作員的使用記錄 l Z軸保護傳感器 l 安全防射線光閘 l 樣品室門開閉傳感器 l X射線鎖 l X射線警示燈 l 緊急停止按鈕 l 前面板安全鈕和后面板安全鎖 | ||||||
| 結果輸出 | l 直接打印 l 一鍵導出到PDF文件、Excel文件（選配）； l 自定義報告模板，報告包可含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等； l 統計數據、圖、表含有平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖等
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