CMI900X射線熒光鍍層測厚儀 返回列表頁

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀

 主要特點測量范圍寬，可檢測元素范圍：Ti22–U92；可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；精度高、穩定性好；強大的數據統計、處理功能；NIST認證的標準片；服務及。 技術參數測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器)在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圓形12mil>準直器)樣品室開槽式樣品室樣品臺尺寸zui大610mm x 610mmXY軸移動范圍標準：152.4 x 177.8mm<程控>Z軸程控移動高度43.18mmXYZ軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制；XY軸手動控制和Z軸程序控制；XYZ三軸手動控制樣品觀察系統高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀主要特點

測量范圍寬，可檢測元素范圍：Ti22–U92；

可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；

精度高、穩定性好；

強大的數據統計、處理功能；

NIST認證的標準片；

服務及。