質量保證 膜厚測試儀 返回列表頁

質量保證 膜厚測試儀X射線衍射裝置

  具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽（NaCl）時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質由鈉（Na）和氯（Cl）構成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質由（NaCl）的結晶構成。單純地看也許會認為能知道結晶狀態的X射線衍射裝置（XRD為好,但當測定含多種化合物的物質時只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進行定性。
主要特點

   ★ 自動對焦功能 。配備激光自動對焦功能，能夠準確對焦，提高測量效率。

　　★ 具有焦點距離切換功能，適用于有凹凸的機械部件與電路板的底部進行測量

　　★ 采用檢量線法和FP法，兩個準直器可自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成的損壞。

　　★ 選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。

　　★ 支持多種語言的軟件系統。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語

　　★ 搭載樣品尺寸的兼容性可適用于各種樣品，能夠通過一臺儀器測量，從電子部件、電路板到機械部件等高度較高的樣品，從較厚的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等

　　★ 鹵素燈照明

　　★即時生成測量報告的便捷性 。運用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡單輕松得到制作報告

　　★ 多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正

　　★ 搭載了電動X－Y移動平臺

質量保證 膜厚測試儀技術參數：

　 儀器的特長：廣泛應用型

　　可測元素：Ti～U

　　X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗

　　濾波器：

　　一次濾波器：A1-自動切換

　　二次濾波器：Co-自動切換

　 檢測器：比例計數管

　　樣品觀察：CCD攝像機

　　對焦方式：激光自動對焦

　　測定軟件：薄膜FP法、檢量線法

　　5個準直器可自動切換

　　型（Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm）

　　型（0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm）

　　安全機能：測量室門自鎖功能

　　Z軸防沖撞功能

　　儀器自診斷功能

質量保證 膜厚測試儀原理

  采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）?，F代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。