CMI900英國進口牛津膜厚儀-膜厚計 返回列表頁

CMI900英國進口牛津膜厚儀電渦流測量原理
  高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基越近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適

CMI900英國進口牛津膜厚儀測量原理
  采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應膜厚儀
來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層。

CMI900英國進口牛津膜厚儀使用須知

1.在使用膜厚計前，請閱讀操作安全須知及使用手冊

2.請勿將膜厚計靠近任何產生強力磁場或者靜電場的裝置，此舉可能會導致膜厚計故障。

3.請勿暴露于腐蝕性或者可燃性氣體下使用膜厚計。此舉可能會破壞沒偶后繼或者產生爆炸。

4.請勿在直接收到日光照射或者結露的環境下使用膜厚計，此舉可能會導致膜厚計發生變形或者絕緣層杯破壞，或者導致膜厚計特性超出規格。

5.一點校正：必須在每次量測時實行此動作

6.兩點校正：建議在常用測試點實行此動作以增加量測的準確性。

CMI900英國進口牛津膜厚儀操作說明

開機與關機

1.確保膜厚計感應器前端遠離任何的底材或者磁場

2.壓下扳手直至畫面有顯示后放開扳手，等待畫面顯示“um”或“mils”及HOLD后才可量測。

3.自動電源關閉功能（APO）：15秒沒有任何操作膜厚計動作的話，膜厚計電源將會自動關閉以延長電池壽命。

CMI900英國進口牛津膜厚儀

  膜厚儀又叫膜厚計、膜厚測試儀，分為磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

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