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CMI900系列 X射線熒光鍍層測厚儀
儀器介紹
CMI900熒光X射線鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，快速無損測量，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。
適用范圍
用于電子元器件，半導體，PCB，FPC，LED支架，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器，端子，衛浴潔具，首飾飾品……多個行業表面鍍層厚度的測量；
測量鍍層，金屬涂層，薄膜的厚度或液體（鍍液的成分分析）組成。
主要特點
測量范圍寬，可檢測元素范圍：Ti22–U92；
可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；
精度高、穩定性好；
強大的數據統計、處理功能；
NIST認證的標準片；
服務及。
技術參數
| 主要規格 | 規格描述 |
| X射線激發系統 | 垂直下照式X射線光學系統 |
| 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | |
| 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | |
| 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA） | |
| 裝備有安全防射線光閘 | |
| 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 | |
| 準直器系統 | 單準直器組件 |
| 多準直器自動控制組件：zui多可同時裝配6種規格的準直器 |
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