手持式面銅測厚儀CMI563 返回列表頁

   鼎極天電子供應手持式面銅測厚儀CMI563專為測量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設計。

鼎極天電子供應手持式面銅測厚儀CMI563功能：

測量時，連續(xù)顯示/更新平均、標準偏差、讀數(shù)數(shù)目
內存可存儲100組、10,000 個讀數(shù)
內置時鐘可更新存儲數(shù)據，并給每個數(shù)據附上測量時間。
USB, IR 和系列輸出選項，可用于與打印機和電腦簡單連接。
背光顯示，可在黑暗環(huán)境中使用。
密耳和微米之間轉換
可選擇多種語言: 英語、西班牙語、法語、德語、葡萄牙語、中文、日語、挪威語、俄語、捷克斯洛法克語、意大利語

鼎極天電子供應手持式面銅測厚儀CMI563操作指導：

1）當測量中出現(xiàn)示值顯示不穩(wěn)定現(xiàn)象時，其主要原因可能是工件自身材料結構的特殊性影響，例如工件本身可能是磁性材料，如果確認是磁性材料，那么就應該選擇磁性涂鍍層膜厚儀；如果工件為導電體，就應該選擇渦流涂鍍層膜厚儀。另外工件的表面粗糙度和附著物也會引起儀器示值顯示不穩(wěn)定，例如工件表面粗糙度過大、表面附著物太多，測量時，側頭不能準確穩(wěn)定地接觸工件，因而造成測量示數(shù)波動。排除故障主要就是將粗糙度比較大的工件打磨平整，除去表面附著物，并且選擇合適的涂層膜厚儀； 

2）測量結果誤差太多。引起涂鍍層膜厚儀測量誤差大的原因主要有基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場干擾和測頭的放置方法等。在測量時應該逐一進行考慮并認真研究，zui大程度地排除干擾，使測量準確； 

3）當儀器長時間不使用時應該取出電池，在使用過程中，如果儀器出現(xiàn)低電壓提示，應該及時為儀器更換電池，更換電池時要注意電池極性，防止裝反，并且要使用正規(guī)廠家生產的優(yōu)質電池，從而避免因為電池的泄露而污染儀器甚至導致儀器的損壞； 

4）在具體測量過程中，儀器每次的測量數(shù)據通常都有一定波動，一次測量誤差太大，因此在測量時必須在每一測量面積內反復多次測量讀數(shù)，處理數(shù)據時要排除誤差過大的數(shù)據，對波動值取平均值，以zui大程度地降低因操作和儀器引起的測量誤差。一般來說，測量次數(shù)越多，zui終數(shù)據越接近準確值，但是為了操作簡便，一般每一測量面積內進行三到五次測量； 

5）在測量時應該注意儀器的zui大臨界厚度值，因為如果工件厚度過大乃至超過儀器測量的臨界厚度值，測量就不受基體金屬厚度的影響。因此在測量前一定要檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果超過了，就需要進行適當校準，保證要測量正常準確進行； 

6）試件表面附著物在很大程度上影響著測量穩(wěn)定性和測量精度，因此在測量前必須首先清除試件表面附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但是注意不要除去任何覆蓋層物質，在保證儀器測頭和被測試件表面直接穩(wěn)定接觸的情況下不減少覆蓋層厚度。 

鼎極天電子供應手持式面銅測厚儀CMI563儀器要求
   鍍層厚度要求在陰極表面上分布的均勻性和完整性，是決定鍍層厚度要求質量的一個重要因素，它在一定程度上影響著鍍層厚度要求的防護性能。在電鍍中常用分散能力和覆蓋能力來分別評定金屬鍍層厚度要求在陰極上分布的均勻性和完整性。鍍層厚度要求在零件上分布的完整程度。覆蓋能力，鍍得越深，覆蓋能力差，在零件凹處就鍍不上金屬鍍層厚度要求。 鍍液的分散能力與覆蓋能力的含義不同，要注意區(qū)別，不要混淆。

儀器參數(shù)

優(yōu)質手持式磁感應膜厚儀批發(fā)價格原理：

   膜厚儀是采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小， 來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機.現(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。